廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司
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SMB-150PF-規(guī)格150L高低溫濕熱試驗(yàn)箱電子晶體鑒定設(shè)備
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高低溫折彎試驗(yàn)機(jī)
折彎?rùn)C(jī)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱
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氙燈老化試驗(yàn)箱
規(guī)格150L高低溫濕熱試驗(yàn)箱電子晶體鑒定設(shè)備
電子晶體高低溫老化試驗(yàn)機(jī)主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、高溫高濕條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

規(guī)格150L高低溫濕熱試驗(yàn)箱電子晶體鑒定設(shè)備

用途

是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備;特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006及GB/T10592-1989制造標(biāo)準(zhǔn)。

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法(部分)

GB/T2423.3-2006試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.4-1993試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.34-2005試驗(yàn)Z/AD:溫濕組合或其它在設(shè)備性能范圍內(nèi)的溫濕度試驗(yàn)。

 

規(guī)格150L高低溫濕熱試驗(yàn)箱電子晶體鑒定設(shè)備

主要配置

進(jìn)口法國(guó)"泰康"牌全封閉式壓縮機(jī),韓國(guó)進(jìn)口TEMI880觸摸屏控制器,控制系統(tǒng)和冷凍系統(tǒng)主要均采用意大利、丹麥或日本部件。

控制器

1、溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表,操作設(shè)定簡(jiǎn)單。

2、資料及試驗(yàn)條件輸入后,控制器具有鎖定功能,防止人為觸摸而改變溫度值。

3、高低溫試驗(yàn)箱控制器具有 P.I.D 自動(dòng)演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為精確穩(wěn)定。

4、可選配打印機(jī)。

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