測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。
主要類型
用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時(shí)須測量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時(shí)則要測定材料表面的覆蓋層厚度。根據(jù)測定原理的不同，常用測厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。
聲波測厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時(shí)會被反射，測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。
磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測定值會因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦流測厚儀當(dāng)載有頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時(shí)，由于頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。
同位素測厚儀利用物質(zhì)厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。
使用注意事項(xiàng)
測厚儀的測試方法主要有:磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，聲波測厚法。
測量注意事項(xiàng):
⒈在行測試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時(shí)要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時(shí)不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因?yàn)榘愕臏y厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在行測試的時(shí)候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此聲波測厚儀在行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
應(yīng)用
1、激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制中零件表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種業(yè)設(shè)備。
3、紙張測厚儀:適用于4mm以下的薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。
4、薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量度，具有數(shù)據(jù)輸出、意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點(diǎn)。
5、涂層測厚儀:用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度.
6、聲波測厚儀:聲波測厚儀是根據(jù)聲波脈沖反射原理來行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過測量聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。
