噴霧粒度分析儀 型號：HADW180B
HADW180B噴霧激光粒度分析儀主要性能點：
HADW180B采用了分體式結(jié)構(gòu)，可測試遠距離樣品， HADW180B采用了大平臺，即使體式使用也能滿足0.1米到10米的距離上正常測試。
的光路：HADW180B采用了米氏散射原理和典型的平行光路，配備了大率的半導體激光器；密度探測單元，讓HADW180B擁有了強的小顆粒測試能力，HADW180B在1μm～1000μm內(nèi)無縫測試。同時HADW180B又加入了光路自動調(diào)整裝置，方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。
大率半導體激光器：HADW180B采用了大率的半導體激光器，增強了儀器的分辨能力，使小顆粒也無處藏身。
自動對中：采用機械中心與光學中心相結(jié)合，光路自動調(diào)整定位更，達到微米別；同時光路調(diào)整速度個更快捷快15秒即可成調(diào)整。自行研制的自動對中系統(tǒng)包括步電機、導軌、控制器以及軟件系統(tǒng)組成，小步距0.2微米，保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過，提測試結(jié)果的準確性以及測試的重復(fù)性。自動對中系統(tǒng)是激光粒度儀的標準配置。
口鏡頭：HADW180B采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像，接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭，顆粒探測更加。
寬量程：HADW180B量程達到了1μm～1000μm。
輔光定位：HADW180B加入了輔光定位能，定位時發(fā)射端兩束激光同時發(fā)出，接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調(diào)整系統(tǒng)，大大簡化了調(diào)整難度。
強大的分析軟件：強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內(nèi)所有霧滴的粒度分布。在激光束內(nèi)移動噴霧測試結(jié)果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計分析。
參數(shù)
執(zhí)行標準 GB/T 19077-2016/ISO 13320:2009
測試范圍 1μm-1000μm / 0.11μm-1000μm
探測器通道數(shù) 66
準確性誤差 <1%（家標準樣品D50值）
重復(fù)性誤差 <1%（家標準樣品D50值）
樣方式 開放式樣
儀器結(jié)構(gòu) 體式或分體式可選
分體式導軌（選配） 分體式儀器，測試區(qū)域在3米以內(nèi)可以選配導軌
激光器參數(shù) 口光纖輸出大率激光器 λ= 650nm, 率1-40mw可調(diào)
關(guān)鍵參數(shù) 測量區(qū) 分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測試
體式：儀器100mm到340mm
鏡頭 佳能性能鏡頭
鏡頭保護 氣幕保護
樣方式 噴射（包含霧滴和固體粉末）
自動對中 儀器自動調(diào)整光路，電腦軟件鍵自動成。
軟件能 分析模式 包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正態(tài)分布、按目分統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求
統(tǒng)計方式 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式
統(tǒng)計 可針對多條測試結(jié)果行統(tǒng)計分析，可明顯對比不同批次樣品、前后樣品以及不同時間測試結(jié)果的差異，對業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強的實際意義
自行DIY 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)
顯示模板 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、致性、區(qū)間累積等等
測試報告 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結(jié)果
多語言支持 中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。
操作模式 電腦操作
測試速度 <1min/次
重量 25Kg
