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[供應(yīng)]PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱
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  • PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱
貨物所在地:
廣東東莞市
產(chǎn)地:
東莞
更新時(shí)間:
2022-07-25 08:40:27
有效期:
2022年7月25日 -- 2023年7月25日
已獲點(diǎn)擊:
250
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產(chǎn)品簡介

PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途:使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。

詳細(xì)介紹

艾思荔PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。圓幅內(nèi)襯,不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。精密設(shè)計(jì),氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續(xù)400Hrs運(yùn)轉(zhuǎn)。進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無泄露。整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶的使用和安全。反壓門鎖裝置,在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí),試驗(yàn)箱門無法打開。  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱控制系統(tǒng) 

1、采用中國臺(tái)灣臺(tái)儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體)。  

2時(shí)間控制器采LED顯示器。  

3采用指針顯示壓力表。  

4微電腦P。ID自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。  

5手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn))

<strong><strong><strong><strong>PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong> 飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱性能

1、設(shè)定溫度+100℃~+132℃(飽和蒸氣溫度)  

2、濕度范圍*蒸氣濕度  

3使用壓力1。5Kg~3。2Kg/cm2(內(nèi)桶設(shè)計(jì)耐壓4Kg/cm2)(Jue對(duì)壓力)  

4、時(shí)間范圍000Hr~999Hr  

5、加壓時(shí)間0。00Kg~1。04Kg/cm2約45分  

6溫度波動(dòng)均勻度±0。5℃  

7溫度顯示精度:0。1℃  

8壓力波動(dòng)均勻度±0。2Kg  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱附配文件

1、系統(tǒng)全新保證書,保固書  

2、采用中國臺(tái)灣臺(tái)儀微電腦控制飽和蒸氣溫度(采用PT-100白金感溫體)。  

3、時(shí)間控制器采LED顯示器。  

4、采用指針顯示壓力表  

5、微電腦P。I。D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度。  

6、手動(dòng)入水閥(自動(dòng)補(bǔ)水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗(yàn))  

飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱材質(zhì):  

1、試驗(yàn)箱尺寸∮300mmxL500mm,圓型試驗(yàn)箱  

2、全機(jī)外尺寸以實(shí)際為主(W*D*H)立式  

3、內(nèi)桶材質(zhì)不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3163mm)  

4外桶材質(zhì)不銹鋼板材質(zhì)(SUS#3161mm))  

5、保溫材質(zhì):巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫  

6、蒸汽發(fā)室加熱管:鰭片散熱管形無縫鋼管電熱器(表面鍍鉑,防腐蝕)

<strong><strong><strong><strong>PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱</strong></strong></strong></strong> 飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱安全保護(hù):  

1進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無泄露。  

2、整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動(dòng)泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶的使用和安全。  

3反壓門鎖裝置,在試驗(yàn)室內(nèi)部有壓力時(shí),試驗(yàn)箱門無法打開。

PCT飽和加速壽命老化試驗(yàn)箱用途:使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。  

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