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IC芯片PCT高壓高濕試驗箱用途：
用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
《所發(fā)布的各款試驗設備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以艾思荔業(yè)務員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準》
IC芯片PCT高壓高濕試驗箱機械結(jié)構(gòu)：
1、圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)容器標準，可防止試驗中結(jié)露滴水設計、
2、圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品、
3、精 密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)400Hrs運轉(zhuǎn)、
4、zhuan利型packing設計使門與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長packing壽命、
5、臨界點LIMIT方式自動保護，異常原因與故障指示燈顯示、
6、保護：
a、進口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，保證壓力無泄露。
b、整機配備超壓保護，超溫保護，一鍵泄壓，手動泄壓多重保障裝置，在zui大程度上保證用戶的使用和。
c、反壓門鎖裝置，在試驗室內(nèi)部有壓力時，試驗箱門無法打開。
高壓高濕試驗箱技術參數(shù)：
1、型號：PCT-25內(nèi)箱Φ25×40㎝
2、型號：PCT-30內(nèi)箱Φ30×50㎝
3、型號：PCT-40內(nèi)箱Φ40×60㎝
4、型號：PCT-50內(nèi)箱Φ50×70㎝
5、溫度范圍：100℃～132℃
6、濕度范圍：*RH飽和蒸汽
7、壓力范圍：大氣壓+0～4㎏/cm2
IC芯片PCT高壓高濕試驗箱用途：
用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
