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IC磁鐵hast加速老化試驗(yàn)箱用途：
適用于國(guó)防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》
1、測(cè)試環(huán)境條件4、2、測(cè)試方法環(huán)境溫度為+25℃、相對(duì)濕度≤85%、
2、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點(diǎn))
3、溫度波動(dòng)度±0、5℃、
4、溫度偏差±2、0℃、
5、濕度范圍75%～100%R、H、(控制點(diǎn))
6、濕度波動(dòng)度±2、5%R、H、
7、濕度均勻度±5、0%、
8、壓力范圍0、5～2㎏/㎝2(0、05～0、196MPa)(控制點(diǎn))
9、升溫時(shí)間常溫→+132℃35min、
10、升壓時(shí)間常壓→+2㎏/㎝240min
hast加速老化試驗(yàn)箱試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止：
易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。
適用于國(guó)防、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性，氣密性。
