ATECLOUD智能云測試平臺(tái)是由納米軟件自主研發(fā)的文字化語言編程軟件平臺(tái)，可用于上位機(jī)軟件開發(fā)，一拖即用，相較于傳統(tǒng)的代碼編程、LabVIEW軟件的圖形化編程，平臺(tái)封裝了算子、各類儀器指令、數(shù)據(jù)洞察，讓不懂編程的人也可以快速上手。平臺(tái)具有強(qiáng)大功能，界面清爽流暢，操作十分簡單，輕松編寫語言。平臺(tái)為大家提供了非常不錯(cuò)的程序開發(fā)環(huán)境，此軟件有著極為強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，可以幫助大家更快的集成各類數(shù)據(jù)并進(jìn)行分析，兼容性也非常強(qiáng)，是開發(fā)測量或控制系統(tǒng)的理想選擇。

ATECLOUD去LabVIEW化，無需編程，15分鐘快速搭建自動(dòng)化測試；

自定義報(bào)告模板，可實(shí)現(xiàn)快速建立、快速修改；

充分利用大數(shù)據(jù)、云計(jì)算，發(fā)揮數(shù)據(jù)的無限價(jià)值；

ATECLOUD-APP在任何時(shí)間任何，地點(diǎn)皆能滿足您的遠(yuǎn)程測試要求；

數(shù)據(jù)可視化為您提供測試數(shù)據(jù)，實(shí)時(shí)分析實(shí)時(shí)展示。

使用納米軟件ATECLOUD智能云測試平臺(tái)，您可以快速獲得來自各種測量硬件的真實(shí)世界數(shù)據(jù)，

作為測量和自動(dòng)化應(yīng)用程序的一部分，它使得控制任何測量硬件來收集數(shù)據(jù)成為可能。

ATECLOUD智能云測試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測試系統(tǒng)、多通道數(shù)據(jù)采集測試系統(tǒng)、

電源模塊自動(dòng)測試系統(tǒng)、LCR自動(dòng)測試系統(tǒng)、其他根據(jù)用戶需求非標(biāo)定制的測試項(xiàng)目方面。

應(yīng)用場景

1. 將被測產(chǎn)品及測試儀器進(jìn)行測試環(huán)境搭建

2. 在ATECLOUD平臺(tái)進(jìn)行測試方案編輯

3. ATECLOUD平臺(tái)自動(dòng)測試并保存測試數(shù)據(jù)

4. ATECLOUD平臺(tái)的豐富算法模型，高質(zhì)量的分析報(bào)告，挖掘數(shù)據(jù)深度價(jià)值

產(chǎn)品特點(diǎn)

硬件結(jié)構(gòu)

1. 支持互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)部署

2. GPIB/USB/LAN/RS232/485多種接口庫

軟件架構(gòu)

1. 自主研發(fā)，多層級(jí)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

2. 大數(shù)據(jù)系統(tǒng)

3. 試驗(yàn)運(yùn)行全面控制

4. 獨(dú)立賬號(hào)安全可靠

工作原理

1. ATE-GATEWAY

2. ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量，滿足時(shí)效性要求

3. ATEBOX

4. ATEBOX與各類設(shè)備快速對(duì)接；ATEBOX作為總控單元與硬件層的中間環(huán)節(jié)，完成與各類標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備、非標(biāo)設(shè)備或PLC的快速對(duì)接。

使用流程

數(shù)據(jù)分析

1. 實(shí)時(shí)監(jiān)控

2. 電子看板

3. 預(yù)警提醒

4. 測試管理

• 案例展示

索取產(chǎn)品資料，申請(qǐng)免費(fèi)試用，了解或咨詢 自動(dòng)化測試軟件 / 自動(dòng)計(jì)量軟件 / 儀器程控軟件 / 上位機(jī)軟件開發(fā)，請(qǐng)?jiān)L問納米軟件，或聯(lián)系我們手機(jī)號(hào)同微信。