您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
| 濕度 | < 80％ |
|---|
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
單晶少子壽命測試儀 型號： LT-2
單晶少子壽命測試儀
| 是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 術 指 標 ： | ||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||
