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當前位置:北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司>>實驗室儀器>>勻膠機>> KDB-1A雜質(zhì)濃度測試儀

雜質(zhì)濃度測試儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號KDB-1A

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時間:2024-05-10 21:36:23瀏覽次數(shù):773次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
雜質(zhì)濃度測試儀
產(chǎn)品型號: KDB-1A
產(chǎn)品簡介
原理:根據(jù)硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質(zhì)濃度的關系,可直接測量、計算出晶體內(nèi)的雜質(zhì)濃度。

雜質(zhì)濃度測試儀  


原理:根據(jù)硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質(zhì)濃度的關系,可直接測量、計算出晶體內(nèi)的雜質(zhì)濃度。  
范圍:它適合于測量橫截面尺寸是可測量的,而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒,例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。  
用途:根據(jù)測量沿錠長雜質(zhì)濃度的分布狀況決定產(chǎn)品的合格部分,通過雜質(zhì)濃度的直接測量,決定晶體生長過程中的摻雜數(shù)量。  
樣品可在常溫或低溫下測量。  
顯示方式:儀器連接PC機,通過測試軟件計算,用對數(shù)坐標的方式來顯示雜質(zhì)濃度(含次方數(shù))沿錠長的分布曲線,可對曲線圖進行打印和保存。  
測量范圍: 可測晶體電阻率:0.005-3000Ω·cm。  
直流數(shù)字電壓表測量范圍:0-199.99mV,靈敏度:10μA。

雜質(zhì)濃度測試儀  

 

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:扶梯測速儀 
產(chǎn)品型號:FT-880

扶梯測速儀 型號:FT-880

該儀表主要用于測試自動扶梯的扶手帶和梯級之間運行速度的同步率,防范因同步率差而造成的不安全因素,可廣泛應用于自動扶梯的制造、安裝、調(diào)試、保養(yǎng)和檢驗等,改變了以往憑人感覺測試同步率的方法,是自動扶梯檢測的*工具。 
主要技術參數(shù) 
測速范圍 :0.200~5.000m/s 
測速分辨率 :0.001m/s 
速度測量誤差 :±1% 
同步率誤差 :±0.2%

 

 

 

 

產(chǎn)品名稱:熱材料智能平板導熱系數(shù)測定儀 
產(chǎn)品型號:DRXII-300A

 熱材料智能平板導熱系數(shù)測定儀 型號:DRXII-300A
該儀器主要測試建筑工程保溫材料,熱材料、玻璃,纖維,泡沫等固體材料的導熱系數(shù)。測試材料包括纖維板,疏松填充的玻璃纖維,陶瓷纖維,(XPS/EPS/PUR等)泡沫塑料,層間復合板,真空板,橡膠制品,水泥制品,粉末材料,填充材料,石膏板等。符合國標GB /T 10294-2008防護熱板法,ASTM C 518 與 ISO 8302等測試標準,在原DRX-I- PC雙平板儀器技術上做了重大改進升級,具有三重溫度防護,大限度降低環(huán)境熱干擾 ,試件與冷熱板能達到自動平行調(diào)整,試件兩側(cè)不平行誤差很小,冷面有電子制冷技術和水介質(zhì)等其他冷媒供用戶選擇,精確穩(wěn)定控溫技術 計算機接口,軟件實時測控,數(shù)據(jù)處理與存盤等良好技術,*符合國標對導熱系數(shù)測量要求。應用于材料性能檢測機構(gòu),科學研究機構(gòu)(院),工廠質(zhì)量檢測部門,高等院校教學與科研。  
主要技術指標   
(1) 可配置厚度在線實時測量和讀數(shù)裝置,無需手動測量試件。  
(2) 可配置試件壓力在線實時檢測、顯示與調(diào)控功能   
(3) 內(nèi)置雙平板結(jié)構(gòu)設計和保溫技術,高精度溫度檢測和補償功能的電路設計。  
(4) 內(nèi)置模糊 PID 護板-熱板溫度跟蹤與精密調(diào)控技術  
(5)  導熱系數(shù)和加熱功率的自校準功能  
(6)  試件厚度、平均溫度補償功能   
(7)  WINDOWS操作界面的全自動熱分析測量軟件系統(tǒng),數(shù)據(jù)分析和報告輸出功能。  
(8)  加厚型導熱儀可精確測量加厚試件的導熱系數(shù),大試件厚度可達200mm。  
(9)電源電壓:AC 220V±5%, 功    率:3.0kW   
(10) 導熱系數(shù)測量范圍: 0.01~2.2 W/ m·K,  
 測量重復性:± 1.0%,測量精度:± 2.5%  
(11) 溫度測量范圍:低冷板溫度-40℃,冷板小設定溫度:-40~60℃  
(12)熱板設定溫度:室溫~110℃ ,300℃,600℃(可供選擇),  
冷面低溫度 :-10℃ -20℃,-40℃(可供選擇);控溫精度  : 0.1℃   
溫度測量精度:0.1℃溫度分辨力: 0.01℃  
冷面制冷 :電子半導體制冷,壓縮空氣冷卻,冷卻水制冷,乙醇介質(zhì)壓縮機制冷方式供選擇  
(13)環(huán)境條件:室溫:18~25℃,濕度:20~80%RH  
(14)平板試件要求:  
標準厚度:常規(guī)型導熱儀:25 ± 1 mm(標準推薦),大可達50 mm  
加厚型導熱儀:60~100 mm,大可達200 mm,  
平 面 度:<0.5mm,硬度:于多種相關硬質(zhì)材料皆可,對于相關軟質(zhì)材料亦可測量,  
粉末樣品要求:無特殊要求??膳浣臃勰y試裝置盒。  
(15)溫度控制精度: 熱板(±0.1℃)冷板(±0.1℃)  
(16)樣品尺寸要求(mm):200×200×(5-20),300×300×(5-100),  
400×200×200 
(17)配全自動熱分析軟件 :Windows  XP /sp2中文、英文操作界面  
該機型為臥式和立式兩種,外形供參考,以出廠為準

 

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