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太陽能組件真實負電壓PID 測試儀3608/3612
PID 真實負電壓測試
? 多通道同步獨立測試
? 超出上限之通道自動斷開輸出,不影響其他通道繼續(xù)老化
? 高精度達到 0.1uA 電流顯示
? 鍵盤鎖定功能
? 標配標準 RS485 通訊接口
? 特殊要求可定制
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
太陽能組件真實負電壓PID 測試儀3608/3612
PID 真實負電壓測試
• 多通道同步獨立測試
• 超出上限之通道自動斷開輸出,不影響其他通道繼續(xù)老化
• 高精度達到 0.1uA 電流顯示
• 鍵盤鎖定功能
• 標配標準 RS485 通訊接口
• 特殊要求可定制
太陽能組件真實負電壓PID 測試儀3608/3612
規(guī)格：
MODEL | 3608 |
| 3612 | |
Channel | 8 |
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| 12 |
Output Rating | ±2.5KV DC/240μA |
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Output Voltage, DC | 0 - 2500.0 |
| 1 | ± (1.5% of setting + 15V) |
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SETTINGS |
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Hi-Limit DC Current, μA | 0 – 240.0 |
| 0.1 | ± (2% of setting + 5counts) |
Lo-Limit DC Current, μA | 0 – 240.0 |
| 0.1 | ± (2% of setting + 5counts) |
Ramp Time, second | 0.1 - 999.9 |
| 0.1 | ± (0.1% + 0.05sec) |
Dwell Time,second | 0, 0.4 - 999.9 (0=continuous) |
| 0.1 | |
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太陽能是未來具有廣泛應用前景的新能源。近幾年的研究表明，存在于晶體硅光伏組件中的電路與其接地金屬邊框之間的高電壓，會造成組件光伏性能的持續(xù)衰減，業(yè)內(nèi)稱之為電位誘導衰減（PID效應）。
電勢誘導衰減，是電池組件的封裝材料和其上表面及下表面的材料，電池片與其接地金屬邊框之間的高電壓作用下出現(xiàn)離子遷移，而造成組件性能衰減的現(xiàn)象。