等離子體光譜儀用于測(cè)定各種物質(zhì)中的常量、微量、痕量元素的含量。該儀器具有高效、抗干擾型強(qiáng)、自動(dòng)化程度高、操作簡(jiǎn)便、穩(wěn)定可靠、測(cè)試范圍廣、分析速度快、檢出限低等特點(diǎn)。

 

　　等離子體光譜儀的特點(diǎn)：

　　光學(xué)系統(tǒng)：全新豎式光室設(shè)計(jì)，全封閉驅(qū)氣型，采用精密溫控恒溫系統(tǒng)，高能量中階梯光柵石英棱鏡交叉色散內(nèi)光路，波長(zhǎng)和級(jí)次二維色散，所有光學(xué)元件均使用全反射球面鏡，保證高光通量和低圖象失真。

　　光柵：采用超高分辨干涉刻制技術(shù)，52.91條/mm，63.5閃耀角。

　　棱鏡：交叉色散，采用雙通過(guò)設(shè)計(jì)確保成像質(zhì)量，9.5角，超純紫外熔融石英。

　　波長(zhǎng)覆蓋：166-847nm全波長(zhǎng)覆蓋，Al 167.120nm測(cè)試可獲得更高紫外靈敏度，對(duì)于K 766.490nm和Na 818.326nm長(zhǎng)波同樣性能優(yōu)異。

　　焦距：383nm，緊湊型光室。

 

　　檢測(cè)器：

　　新一代RACID86電荷注入式檢測(cè)器是高性能的固體成像系統(tǒng)。熱電的CID是能夠傳輸高反差/低噪音圖象的加強(qiáng)型電荷傳輸器件，它可以對(duì)分析范圍內(nèi)的所有波長(zhǎng)進(jìn)行定性定量，而決無(wú)電荷溢出現(xiàn)象；

　　檢測(cè)器模式：隨機(jī)讀取積分；

　　經(jīng)選擇的分析波長(zhǎng)以zuì佳信噪比的方式同時(shí)積分，這樣光所產(chǎn)生的電荷量可以保持在CID的線(xiàn)性范圍內(nèi)。它是利用了CID所*的非破壞性讀取(NDRO) 功能而獲得的。NDRO 允許觀(guān)測(cè)任意曝光點(diǎn)的任何像數(shù)單元上的信號(hào)。在這種方式下，像數(shù)與像數(shù)之間的讀出頻率隨著發(fā)射強(qiáng)度的實(shí)時(shí)觀(guān)測(cè)而各不相同，因而得到zuì寬的動(dòng)態(tài)范圍線(xiàn)性；

　　陣列尺寸：291,600個(gè)獨(dú)立尋址檢測(cè)單元，540×540陣列連續(xù)覆蓋所有可用波長(zhǎng)；

　　量子化效率：200nm紫外區(qū)可達(dá)65%以上；

　　石英窗：前置成角度封閉式石英窗，提高CID可靠性并降低雜散光；

　　檢測(cè)器冷卻：高效三級(jí)半導(dǎo)體制冷，制冷溫度-45℃，冷卻時(shí)間小于3分鐘，氣體和冷卻水安全連鎖。