日本三豐SV-2100M4 PC型表面粗糙度測量儀

日本三豐SV-2100M4 PC型表面粗糙度測量儀

Surftest SJ-500P/SV-2100M4

數(shù)據(jù)處理裝置（pc）表面粗糙度測量儀

產(chǎn)品特點：

• 輕松定位使用控制器內(nèi)置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內(nèi)側(cè)的測量，需要對微小測頭進行微調(diào)。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調(diào)。

• 表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設(shè)置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。
 

技術(shù)參數(shù)：
 

型號：SV-2100M4 PC型

X 軸 (驅(qū)動部)
  測量范圍:                    100mm
  分辨率：                     0.05μm
  長度基準：                  線性編碼器
  驅(qū)動速度:                    0-40mm/s
  測量速度：                  0.02-5mm/s
  移動方向:                    向后
  直線度：                     0.15μm/100mm
Z2軸（立柱）
 類型：                       手動操作
  垂直移動：                 350mm
檢測器
  范圍/分辨率:               800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm
  檢測方法:                    無軌測量
  測力:                         4mN 或 0.75mN
  測針針尖:                   金剛石, 90º / 5μmR(60º / 2μmR)
                                  導頭曲率半徑: 40mm
                                  導頭壓力: 小于 400mN
                                  類型: 差動電感式
  驅(qū)動裝置的控制：       PC操作
尺寸 (WxDxH)        
  主機（WxDxH）：     716 x 450 x 863 mm
  花崗巖基座（WxD）：600 x 450 mm

日本三豐SV-2100M4 PC型表面粗糙度測量儀