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3View®成像系統(tǒng)

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更新時間:2019-01-08 15:29:57瀏覽次數(shù):818

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產(chǎn)品簡介

價格區(qū)間 面議 儀器種類 熱場發(fā)射
德國蔡司3View®成像系統(tǒng)用于蔡司FE-SEM對生物樣品實現(xiàn)切面成像。是一種快速便捷,以納米分辨率實現(xiàn)三維重構的成像方式。憑借3View®,您可以使用一個在掃描電鏡(SEM)的樣品倉里的超薄切片機對樹脂包埋的細胞和組織樣品進行切削,然后成像,并不斷重復。如果您有蔡司的Sigma或GeminSEM場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM),再配上3View®,那么您一天就可以采集數(shù)以千計序列圖像。切面成像能以

詳細介紹

3View®成像系統(tǒng)

 

3View® 用于您的蔡司FE-SEM對您的生物樣品實現(xiàn)切面成像

 

來自Gatan的3View®通過蔡司場發(fā)射掃描電鏡,對生物樣品實現(xiàn)快速便捷的三維成像

切面成像,是一種快速便捷,以納米分辨率實現(xiàn)三維重構的成像方式。憑借3View®,您可以使用一個在掃描電鏡(SEM)的樣品倉里的超薄切片機對樹脂包埋的細胞和組織樣品進行切削,然后成像,并不斷重復。如果您有蔡司的Sigma或GeminSEM場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM),再配上3View®,那么您一天就可以采集數(shù)以千計序列圖像。切面成像能以便捷的方式,在短時間里實現(xiàn)圖像在三維尺度的校準。

如果想要獲得類似透射電子顯微鏡圖像質量的高分辨率三維數(shù)據(jù),蔡司配有3View®的場發(fā)射掃描電子顯微鏡是你的選擇。蔡司Gemini鏡筒技術會帶給你優(yōu)異的圖像,它可以在進行大視野成像的同時又保持納米級別的分辨率。對于數(shù)百微米尺度樣品的三維重構,切面成像一氣呵成,大幅減少因圖像區(qū)域重疊和拼接花費的時間。 

產(chǎn)品特點

  • 配有3View® SigmaGeminiSEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡可以實現(xiàn)大樣品的切面成像,同時又有出色的圖像質量。
  • Sigma 3View® 中通過可變壓力實現(xiàn)電荷中和,減少成像失真。
  • GeminiSEM 3View®可以帶給你優(yōu)異的低電壓成像效果,以及靈活的探測手段。
  • 現(xiàn)在你可以給你的GeminiSEM升級局部電荷補償器,消除荷電效應的影響。
  • 超高的系統(tǒng)穩(wěn)定性,即使長時間運行也*不需要人工干預。

 

帶有Gemini技術的蔡司場發(fā)射掃描電鏡讓你隨心掌控,出色的分辨率,高效的檢測速度,兩者兼顧。

 

大成像視野

  • 蔡司Gemini 技術提供了納米級別分辨率下高達32k × 24k 像素點的單張圖片。
  • 相比8k × 8k的單幅成像,相同成像區(qū)域下掃描時間只需前者的1/15。
  • 我們把樣品表面的磁場小化,這樣即使大視野成像,圖像邊緣同樣清晰。
  • 對于絕大部分應用,大視野成像意味著你不再需要圖像拼接。
  • 不僅節(jié)約時間而且避免樣品在拼接重疊部分被重復掃描。

 

節(jié)約時間:使用3View®獲取 32k × 24k像素像素尺寸的單張圖像

快速成像

  • 使用3View® ,你可以在短時間內得到3D結果。
  • Sigma高束流模式,大幅提升你的成像速度。
  • 還有更快的: 新型的 OnPoint BSE 檢測器和GeminiSEM 在不影響圖像質量的前提下帶來快速掃描。
  • 根據(jù)不同的應用,多可以節(jié)省90%的時間,一天就能完成以前需要一周的實驗!

 

 

紅色的外周神經(jīng)呈現(xiàn)出復雜的富含節(jié)點和彎曲的神經(jīng)網(wǎng)絡。

圖片由P. Munro, School of Ophthalmology, University College London, UK 提供

 

了解3View®背后的技術

切面成像

3View® 是放置在掃描電鏡樣品倉里的超薄切片機. 塊狀樣品則放置在正對電鏡鏡筒下方的樣品臺上。在上表面被掃描成像之后,樣品會上升很小的一段距離(小可達15 nm)。此時超薄切片機進刀,削掉樣品頂端的薄薄一層,之后退刀,新的表面再次被成像。以這種方式,樣品反復不斷地被切削,成像,而得到數(shù)以千計的切面圖片,從而進行完整的三維重構

局部電荷補償器帶給你不失真的圖像

樹脂包埋的樣品,比如單層細胞或者高度血管化的組織,在成像時你經(jīng)常會遭樣品受荷電效應的困擾,從而導致圖像失真扭曲,質量下降。雖然使用可變壓力的掃描電鏡可以改善這些現(xiàn)象,但同時也會損失圖像信噪比和分辨率。
現(xiàn)在,你可以在配有3View®的GeminiSEM 上搭載由顯微鏡和成像研究國家中心(NCMIR)研制的局部電荷補償器,在保持圖像質量的前提下減少樣品荷電效應。
電荷補償器的工作原理:在樣品上方放置一根極細的進氣針頭,在樣品倉處于高真空狀態(tài)時直接將氮氣導到樣品表面上方。而在樣品被切削時針頭自動回縮,不干擾圖像獲取,從而快速得到切面成像的數(shù)據(jù)。
獲取高分辨的三維成像數(shù)據(jù)就是如此的方便快捷,遠超想象。

蔡司Gemini鏡筒與切面成像*匹配

  • 高穩(wěn)定性熱場發(fā)射電子槍:長時間保證穩(wěn)定如一的成像條件
  • Beam booster減速模式低電壓下也有出色的圖像分辨率
  • 無漏磁設計大視野成像且圖像邊緣同樣清晰

 

低電壓成像的優(yōu)勢:

  • 蔡司Gemini 鏡筒在低電壓成像領域有著出色的表現(xiàn)。
  • 你可以得到樣品表面極表層的BSE信號(在每次切削過程之后)。
  • 樣品深層的信號不會被激發(fā)出來而影響你的圖像質量。

 

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