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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀
Mistrial系列是Bruker布魯克推出的一款簡潔、堅固和可靠的質(zhì)量控制XRF臺式熒光系統(tǒng)，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。
Mistrial可應(yīng)用于常規(guī)金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業(yè)，完成單層或多層厚度測量。
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀主要特點包括：
§ 成本低、快速、非破壞的EDXRF分析
§ 可完成至多12層鍍層（另加底材）和25個元素的鍍層厚度測試，
§ 的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數(shù)22號）到鈾（92號）各元素
M1—Mistrial X射線熒光鍍層測厚儀使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術(shù), Mistrial可實現(xiàn)如下測試要求：
§ 符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度
§ 符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層
§ 至多同時分析25種元素
儀器技術(shù)規(guī)格：
| 參數(shù) | M1 MISTRAL |
| 元素測量范圍 | P(15)-U(92) |
| 樣品室大小 | 420 x 400 x 220 mm |
| 外部尺寸 | 450 x 550 x 420 mm |
| Z軸行程（樣品大高度） | 180 mm |
| 測量 | 空氣 |
| 樣品臺 | 自動Z軸、固定或自動XY軸 |
| 平臺移動分辨率 | < 30 μm |
| 自動對焦，CCD相機 | 標準，CCD相機 |
| 激發(fā)系統(tǒng) | 50 kV 或40 kV W (Rh, Mo, Cr) |
| 光斑大小 | 0.1--1.5 mm，采用準直器 |
| 探測器 | PC或SDD |
| 大計數(shù)率 | PC: 20,000 cps, SDD: 40,000 cps |
| Mn Ka時的能量分辨率 | PC: 約 900 eV, SDD: 150 eV |
| 可測層數(shù) | 多12（每層25種元素） |