J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）

J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）采用*的聚光光學(xué)設(shè)計可將等離子光耦合到檢測器模塊，此功能可實現(xiàn)高的靈敏度性能，它專為處理苛刻的痕量元素分析而設(shè)計-那些需要高靈敏度和準(zhǔn)確性的分析，J200儀器簡單地運行準(zhǔn)備好的測量配方以進行常規(guī)質(zhì)量控制工作

J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）采用*的聚光光學(xué)設(shè)計可將等離子光耦合到檢測器模塊，此功能可實現(xiàn)高的靈敏度性能，它專為處理苛刻的痕量元素分析而設(shè)計-那些需要高靈敏度和準(zhǔn)確性的分析，J200儀器簡單地運行準(zhǔn)備好的測量配方以進行常規(guī)質(zhì)量控制工作，或者實驗室科學(xué)家可以使用該J200儀器進行前沿的元素研究，借助ASI硬件技術(shù)，可確保我們的客戶的LIBS測量準(zhǔn)確且可重復(fù)，通過對各種材料的不同干擾進行廣泛測試的證明。

設(shè)備特點：
1、激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）進行植物分析；
2、用J200 LIBS儀器對紅寶石-沸石中的寶石進行化學(xué)成像；
3、激光誘導(dǎo)擊穿光譜法（LIBS）鑒別油漆樣品；
4、LIBS對of鉭礦的地球化學(xué)指紋圖譜；
5、固態(tài)鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導(dǎo)擊穿光譜分析（LIBS）；
6、LIBS用于土壤中的大量元素和微量元素分析；
7、Spectra的J200 LIBS建立法證玻璃分析的信心。

設(shè)備應(yīng)用須知：
1、使用J200 LIBS儀器進行可重現(xiàn)的測量以實現(xiàn)可靠的質(zhì)量控制；
2、使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜法（LIBS）快速分析采礦樣品；
3、使用LIBS對半導(dǎo)體引線框架上的薄焊料鍍層進行快速鉛（Pb）分析；
4、使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜法（LIBS）對鋼進行定量分析；
5、使用J200 LIBS儀器快速監(jiān)測原始鋰離子電池電極材料的成分；
6、使用激光誘導(dǎo)擊穿光譜法（LIBS）進行氟分析。

J200激光誘導(dǎo)擊穿光譜儀（LIBS）具有簡單直觀的圖形界面，專有的化學(xué)計量軟件利用一組高度復(fù)雜的統(tǒng)計算法為我們的LIBS儀器增加了材料鑒別能力，非常適合實驗室分析和生產(chǎn)監(jiān)控應(yīng)用，該儀器能夠監(jiān)測具有分析意義的單個或多個元素，堅固的儀器設(shè)計確保了每個激光脈沖的可重復(fù)測量結(jié)果，是挑戰(zhàn)許多樣品基質(zhì)中定量元素分析的理想儀器，從而使我們的客戶能夠進行高度創(chuàng)新的LIBS研究。