應用領域:

iEDX-150WT鍍層測厚儀應用于PCB鍍層厚度測量分析、金屬電鍍鍍層分析、電鍍膜厚分析等鍍層領域

技術指標：

多鍍層，1～5層

測試精度：0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測量時間：10~30秒

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射線管50KV/1mA，鉬、鎢、銠靶

6個準直器及多個濾光片自動切換

XYZ三維移動平臺，大荷載為5公斤

高清CCD攝像頭，精確監(jiān)控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸 620×612×525 mm

平臺移動范圍 110(X)x110(Y)x5mm

圖譜界面：

軟件支持無標樣分析

超大分析平臺

可自動連續(xù)多點分析

集成了鍍層分析界面和合金成分分析界面

采用*的多種光譜擬合分析處理技術

分析報告結果

直接打印分析報告
報告可轉換為PDF，EXCEL格式

樣品分析圖譜：

測試結果界面：