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力學樣品臺的詳細介紹

閱讀:1927      發(fā)布時間:2021-4-19
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  SEM力學樣品臺是在標準樣品臺的基礎上設計力學控制模塊和控制單元。該系統(tǒng)采用感應微壓頭,在掃描電鏡內可直接觀察納米機械測試,不僅可以對納米材料進行機械擠壓的成像,而且同時可以獲取載荷-位移數據。

  在使用SEM力學樣品臺實驗時,用戶選擇Push-to-Pull模塊可實現(xiàn)樣品拉伸實驗,或者選擇加熱模塊可實現(xiàn)熱場和力場耦合實驗,加熱模塊可選搭載push-to-pull模塊的程序升溫方式(RT-1000℃,1K),或者選擇加電模塊(*大電壓±50V,電流范圍: pA~mA )。SEM力學樣品臺可以應用的范圍有:

  1、材料力學研究
  
(1)力和位移瞬態(tài)效應相關材料的研究

  (2)位錯卒發(fā)研究

  (3)應力下的晶相轉變研究

  (4)納米線、納米球的力學測試,剪切帶或者斷裂發(fā)生

  (5)材料失效分析

  2、材料力學測試
  
(1)壓痕測試

  (2)拉伸測試(配拉伸臺)

  (3)納米壓痕測試

  (4)納米劃痕測試

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