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TEM固體熱-電樣品桿在實驗中有什么作用?

閱讀:2506      發(fā)布時間:2021-4-27
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  TEM固體熱-電樣品桿是在標準樣品臺基礎上搭建兩電極反饋控溫的加熱模塊、兩電極電學模塊,在透射電鏡中實現(xiàn)樣品的皮米級高分辨成像。能夠在透射電鏡(TEM)內(nèi)為樣品提供可加熱的氣氛環(huán)境。使得TEM能夠觀察樣品的微觀結構(例如原子結構)在氣氛環(huán)境中的演變過程,以直接揭示樣品結構與其氣固界面反應性質(zhì)之間的科學關系。有效提升科研人員科研水平,極大拓展透射電鏡TEM應用范圍。 

  加熱模塊:精準、均勻、安全控溫,溫度精度優(yōu)于0.1K,最高溫度1300℃。通過精確熱場模擬及芯片設計,實現(xiàn)無漂移加熱過程,可在加熱升溫過程中實現(xiàn)實時觀測成像。

  電學(偏壓)模塊:實現(xiàn)電熱外場耦合反應。通過電極施加電場,對單個納米結構進行外場控制并進行電學性質(zhì)的測量。通過電學控制器對樣品施加偏壓,配合電學系統(tǒng)控制程序用于保證微反應系統(tǒng)穩(wěn)定可靠運行的最基本要求,滿足每一臺系統(tǒng)設備的微環(huán)境—電流電壓添加及實時測量,以及實現(xiàn)遠程智能反應條件管理控制功能。該控制程序非常適合各種現(xiàn)代電子器件的電流、電壓特性分析和功能測試:功率半導體材料、功率器件、電化學、能源生產(chǎn)、高效能源消耗等。溫度高于800℃亦可同時進行加熱和電學實驗,且保持穩(wěn)定。

 

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