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[供應(yīng)]長(zhǎng)期回收二手原子吸收分光光度計(jì)廠家
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  • 長(zhǎng)期回收二手原子吸收分光光度計(jì)廠家
貨物所在地:
山東濟(jì)寧市
更新時(shí)間:
2022-01-31 21:00:04
有效期:
2022年1月31日 -- 2022年7月31日
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長(zhǎng)期回收二手原子吸收分光光度計(jì)廠家
原子吸收分光光度法的測(cè)量對(duì)象是呈原子狀態(tài)的金屬元素和部分非金屬元素,是由待測(cè)元素?zé)舭l(fā)出的特征譜線通過(guò)供試品經(jīng)原子化產(chǎn)生的原子蒸氣時(shí),被蒸氣中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收,通過(guò)測(cè)定輻射光強(qiáng)度減弱的程度

詳細(xì)介紹

長(zhǎng)期回收二手原子吸收分光光度計(jì)廠家

原子吸收分光光度法(AAS)簡(jiǎn)稱原子吸收法,是利用被測(cè)元素基態(tài)原子蒸氣對(duì)其共振輻射線的吸收特性進(jìn)行元素定量分析的方法。原子吸收分光光度法具有以下特點(diǎn):

①靈敏度高:常規(guī)分析法對(duì)大多數(shù)元素可達(dá)到ppm級(jí);利用特殊手段可達(dá)到ppb級(jí)的濃度范圍;

②精密度好:一般測(cè)定RSD約為1%~3%,利用特殊方法精密度可小于1%。

③應(yīng)用范圍廣:周期表中70多種元素可利用該法測(cè)定:

④干擾少:原子吸收光譜為分立的銳線光譜,且譜線重疊性少,干擾性小;

⑤試樣用量少:采用石墨爐無(wú)火焰原子吸收法,每次測(cè)量?jī)H需5~20μl試液或0.05~10mg的固體試樣;

⑥快速簡(jiǎn)便,易于自動(dòng)化:液體試樣常可直接進(jìn)樣,一般樣品無(wú)需進(jìn)行預(yù)分離處理,新型號(hào)商品儀器的進(jìn)樣和測(cè)定步驟全部自動(dòng)化完成。

原子吸收分光光度法應(yīng)用的主要限制是:該法只能進(jìn)行無(wú)機(jī)元素的含量分析,不能直接用于有機(jī)化合物的含量分析和結(jié)構(gòu)分析;另外,常規(guī)原子吸收分光光度法每測(cè)一種元素,要更換一次空心陰極燈光源,不能同時(shí)進(jìn)行多元素分析

所用儀器為原子吸收分光光度計(jì),它由光源、原子化器、單色器、背景校正系統(tǒng)、自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。

長(zhǎng)期回收二手原子吸收分光光度計(jì)廠家

一、 光源:常用待測(cè)元素作為陰極的空心陰極燈。

二.、原子化器 主要有四種類型:火焰原子化器、石墨爐原子化器、氫化物發(fā)生原子化器及冷蒸氣發(fā)生原子化器。

(1)火焰原子化器:由霧化器及燃燒燈頭等主要部件組成。其功能是將供試品溶液霧化成氣溶膠后,再與燃?xì)饣旌希M(jìn)入燃燒燈頭產(chǎn)生的火焰中,以干燥、蒸發(fā)、離解供試品,使待測(cè)元素形成基態(tài)原子。燃燒火焰由不同種類的氣體混合物產(chǎn)生,常用乙炔 空氣火焰。改變?nèi)細(xì)夂椭細(xì)獾姆N類及比例可以控制火焰的溫度,以獲得較好的火焰穩(wěn)定性和測(cè)定靈敏度。

(2)石墨爐原子化器:由電熱石墨爐及電源等部件組成。其功能是將供試品溶液干燥、灰化,再經(jīng)高溫原子化使待測(cè)元素形成基態(tài)原子。一般以石墨作為發(fā)熱體,爐中通入保護(hù)氣,以防氧化并能輸送試樣蒸氣。

(3)氫化物發(fā)生原子化器:由氫化物發(fā)生器和原子吸收池組成,可用于砷、鍺、鉛、鎘、硒、錫、銻等元素的測(cè)定。其功能是將待測(cè)元素在酸性介質(zhì)中還原成低沸點(diǎn)、易受熱分解的氫化物,再由載氣導(dǎo)入由石英管、加熱器等組成的原子吸收池,在吸收池中氫化物被加熱分解,并形成基態(tài)原子。

(4)冷蒸氣發(fā)生原子化器:由汞蒸氣發(fā)生器和原子吸收池組成,專門(mén)用于汞的測(cè)定。其功能是將供試品溶液中的汞離子還原成汞蒸氣,再由載氣導(dǎo)入石英原子吸收池,進(jìn)行測(cè)定。

三、單色器:其功能是從光源發(fā)射的電磁輻射中分離出所需要的電磁輻射,儀器光路應(yīng)能保證有良好的光譜分辨率和在相當(dāng)窄的光譜帶(0.2nm)下正常工作的能力,波長(zhǎng)范圍一般為190.0~900.0nm。

四、檢測(cè)系統(tǒng):由檢測(cè)器、信號(hào)處理器和指示記錄器組成,應(yīng)具有較高的靈敏度和較好的穩(wěn)定性,并能及時(shí)跟蹤吸收信號(hào)的急速變化。

五、背景校正系統(tǒng):背景干擾是原子吸收測(cè)定中的常見(jiàn)現(xiàn)象。背景吸收通常來(lái)源于樣品中的共存組分及其在原子化過(guò)程中形成的次生分子或原子的熱發(fā)射、光吸收和光散射等。這些干擾在儀器設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)設(shè)法予以克服。常用的背景校正法有 以下四種:連續(xù)光源(在紫外區(qū)通常用氘燈)、塞曼效應(yīng)、自吸效應(yīng)、非吸收線等。

在原子吸收分光光度分析中,必須注意背景以及其他原因引起的對(duì)測(cè)定的干擾。儀器某些工作條件(如波長(zhǎng)、狹縫、原子化條件等)的變化可影響靈敏度、穩(wěn)定程度和干擾情況。在火焰法原子吸收測(cè)定中可采用選擇適宜的測(cè)定譜線和狹縫、改變火焰溫度、加入絡(luò)合劑或釋放劑、采用標(biāo)準(zhǔn)加入法等方法消除干擾;在石墨爐原子吸收測(cè)定中可采用選擇適宜的背景校正系統(tǒng)、加入適宜的基體改進(jìn)劑等方法消除干擾。具體方法應(yīng)按各品種項(xiàng)下的規(guī)定選用。

 

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