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[供應(yīng)]Leeds-CR DDR低對比度檢測模體
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  • Leeds-CR DDR低對比度檢測模體
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
美國
更新時間:
2024-04-13 21:00:05
有效期:
2024年4月13日 -- 2024年10月13日
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233
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產(chǎn)品簡介

CR DDR低對比度檢測模體用于CR和DDR機性能測試,設(shè)計用于在年度/調(diào)試的基礎(chǔ)上快速,輕松地使用,以提供對成像性能的持續(xù)檢查,特別是那些容易變質(zhì)的方面。

詳細介紹

CR DDR低對比度檢測模體

      隨著醫(yī)療技術(shù)不斷革新,近年DR、DR機技術(shù)已被臨床廣泛應(yīng)用。其時間分辨率高,極短曝光時間即可顯示圖像。減少患者吸收劑量。為確保CR、DR機具備更高的動態(tài)范圍、覆蓋更大的對比度范圍,圖像更多清晰,使其處于良好和高效工作狀態(tài)為患者和醫(yī)院提供保障。質(zhì)控工作就顯得尤為重要。

該套件包括:

  • 至20閾值對比度測試對象*
  • 分辨率測試對象(43型) - 10LP / mm *
  • TO M1幾何測試對象
  • 到MS4網(wǎng)格測試對象
  • 小鉛塊
  • 鋼尺
  • 卷尺
  • 膠帶
  • 1.5毫米銅過濾器

請注意:標有*的項目也可單獨訂購。
其他項目僅可通過訂購?fù)暾腃R / DDR套件獲得。

CR DDR低對比度檢測模體

該套件用于CR和DDR,可以進行以下檢查:

  • 擦除循環(huán)效率
  • 圖像保留
  • 靈敏度指數(shù)*性/靈敏度
  • 均勻度
  • 縮放錯誤
  • 模糊和拼接文物
  • 分辨率測試(*45°)
  • TCDD(閾值對比度細節(jié)可檢測性)

符合《GBZ 187-2007計算機X射線攝影(CR)質(zhì)量控制檢測規(guī)范》

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