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美國(guó)chemplex測(cè)試薄膜-250

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美國(guó)Chemplex樣品膜被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程,適用于各類(lèi)X-ray光譜儀(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測(cè),適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析、金屬成份分析等。美國(guó)chemplex測(cè)試薄膜-250

詳細(xì)介紹

美國(guó)chemplex測(cè)試薄膜-250

美國(guó)chemplex測(cè)試薄膜-250

     

現(xiàn)貨供應(yīng):XRF樣品膜、XRF薄膜、EDX樣品膜、EDX薄膜、樣品薄膜、X-RAY樣品膜、ROHS測(cè)試膜、X-ray樣品膜、X熒光光譜儀樣品膜、光譜儀樣品膜、邁拉膜、麥拉膜、Mylar膜、美國(guó)Chemplex樣品膜

 

 

 

品名:XRF樣品膜Sample Film

目錄編號(hào)CAT.NO250

產(chǎn)品信息:Mylar(邁拉膜、麥拉膜),卷軸,厚度6.0 μm,寬7.6cm x 長(zhǎng)91.4m,1/

品牌:美國(guó)Chemplex Industries.Inc.(*)

貨期:現(xiàn)貨

起訂量:1盒以上。

 

適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、KevexMetorexSiemens、Spectrace、Philips、Fisons。

   

 

 

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