CXT2661手持四探針方塊電阻測(cè)試儀應(yīng)用

CXT2661性能特點(diǎn)

最高電阻精度：0.1 %；電阻最小分辨：1mΩ

最高方阻精度：5%；電阻最小分辨：1mΩ

被測(cè)件厚度可預(yù)設(shè),電阻率測(cè)試無需查表

CXT2661零底數(shù)設(shè)計(jì)，微弱電阻測(cè)試無需清零

多種探頭可選,應(yīng)對(duì)各種特性材料的方阻電阻率測(cè)試

3檔比較功能: 合格/超上限/超下限

電阻/方阻/電阻率可切換顯示

符合GBT 1551-2009及GBT 1552-1995

6000mAh大容量電池,持久續(xù)航

適用于測(cè)量半導(dǎo)體、導(dǎo)電薄膜、金屬/納米涂層、太陽(yáng)能材料、陶瓷等，也可直接測(cè)量電阻器

京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產(chǎn)品帶檢，技術(shù)培訓(xùn)，產(chǎn)品配件選型，儀器說明書。與之配套選件：直 探頭、斜探頭、測(cè)厚探頭、角度探頭、保護(hù)膜探頭、連接線、耦合劑、探傷試塊、電池、充電器、電源線

產(chǎn)品介紹:

CXT2661型四探針方塊電阻測(cè)試儀，同時(shí)也是電阻率測(cè)試儀、電導(dǎo)率測(cè)試儀.本儀器是一款低功耗手持式儀器，適用于片狀或塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻率測(cè)試、太陽(yáng)能等材料的測(cè)試，配置不同的測(cè)試探頭，可以測(cè)量柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方塊電阻，也可使用電阻測(cè)試夾具直接測(cè)量電阻器電阻、開關(guān)接觸電阻等。

適用范圍:

儀器可根據(jù)客戶需要配置不同的測(cè)試探頭，測(cè)量半導(dǎo)體材料、柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、太陽(yáng)能材料、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等材料的電阻率/方阻，也可使用電阻測(cè)試夾具直接測(cè)量電阻器電阻、開關(guān)接觸電阻等。 本儀器采用可充電電池供電，適合手持式變動(dòng)場(chǎng)合操作使用！

儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校等研究生產(chǎn)單位對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料、類半導(dǎo)體材料、器件的導(dǎo)電性能的測(cè)試，滿足對(duì)材料(棒材、片材等)和導(dǎo)電薄膜方塊電阻測(cè)量的需要。

產(chǎn)品描述:

電阻測(cè)試范圍:1mΩ-100KΩ;方阻測(cè)試范圍: 1mΩ/□-100KΩ/□; 電阻率測(cè)試范圍取決于電阻測(cè)試范圍及被測(cè)件尺寸;手持大容量電池方便攜帶