詳細(xì)介紹
MT-BON黑油磁懸(核級(jí))MT-BW黑水磁懸液
新美達(dá)黑磁膏紅磁膏
磁懸液氣霧劑系列
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: 本系列包括MT-BW(黑水)、MT-RW(紅水)、MT-BO(黑油) MT-RO(紅水)和LY-50sol(熒光油)等磁懸液氣霧罐產(chǎn)品. 原料磁粉及罐裝磁懸液符合GB/T 15822.2-2005標(biāo)準(zhǔn) 磁懸液濃度及探傷靈敏度等指標(biāo)還符合BS4069-1982、ASTM E709-80(85)及HB/Z72-1998等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定 磁懸液對(duì)工件表面濕潤(rùn)性好,磁粉分散性好,形成磁痕色澤鮮明。形狀清晰 采用品牌500ml罐體、閥門(mén),由機(jī)械化流水線進(jìn)行灌裝,嚴(yán)格檢驗(yàn),不堵、不漏 紅油磁懸液MR-RO 噴霧罐,按BS-4069標(biāo)準(zhǔn)要求 磁膏系列 京海興樂(lè)科技(北京)有限公司提供儀器維修,產(chǎn)品計(jì)量,技術(shù)培訓(xùn),產(chǎn)品配件,儀器說(shuō)明書(shū)。提供的無(wú)損檢測(cè)儀器設(shè)備包括:超聲檢測(cè)(UT);射線檢測(cè)(RT);滲透檢測(cè)(PT);磁粉檢測(cè)(MT);渦流檢測(cè)(ET);超聲波相控陣、超聲波測(cè)厚儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、超聲波探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、X、γ輻射檢測(cè)儀。代理以下品牌:汕超、美國(guó)GE(德國(guó)KK)、奧林巴斯(Olympus NDT)、美國(guó)磁通(Magnaflux)、DAKOTA等。 CY-1CX 旋轉(zhuǎn)磁軛 CY-BL12W 便攜式LED紫外線燈 CY-12L 便攜式LED紫外線燈 CY-60L 交流LED紫外線燈 CY-90L 固定式LED紫外線燈 CY-100 紫外線燈 CY-300 手持式LED紫外線燈 CY-301 頭戴式高強(qiáng)度LED紫外線燈 CY-400 紫外線燈 CY-UVA-1 紫外線輻照計(jì) 磁懸液氣霧劑系列 磁膏系列 非熒光磁粉 CY-200 新型熒光磁粉濃縮液 SMT M-A 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片 磁粉探傷 I 型試塊 磁懸液濃度測(cè)定管 CY-1A 交流磁軛 CY-1B 可充電式磁軛 CY-1AD 交直流兩用磁軛 MT-DBW 黑水磁懸液 FA-5/FA-5N(核級(jí))反差增強(qiáng)劑 FA-8 反差增強(qiáng)劑 磁粉濃縮液系列 LY-20A 復(fù)合熒光磁粉 LY-500 油基熒光磁粉 MF-20 熒光磁粉 BC-20 分散劑 AR-100X 防銹劑 AR-15X 防銹劑
CY-DHD 多功能暗室燈 大銅鑼膠片 CY7工業(yè)X射線膠片(大銅鑼-2型 ) X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng) ZY-XW100 全自動(dòng)X光片洗片機(jī) XIGH X-DOL 顯影濃縮液 XIGH X-DOL 定影濃縮液 ZY-XP-A 自動(dòng)恒溫洗片機(jī) CY-100A LED觀片燈 CY-100B LED觀片燈 CY-100C 便攜式高亮度LED觀片燈 RAL-1 旋轉(zhuǎn)式LED射線報(bào)警燈 RM-1 數(shù)顯式射線報(bào)警儀 CG-88 超聲波耦合劑 CG-90 干粉耦合劑 UG-N 超聲波耦合劑(核級(jí)) CG-10 超聲波耦合劑(核級(jí)) DPT-3 著色滲透探傷劑 DPT-4 著色滲透探傷劑 DPT-5 著色滲透探傷劑 DPT-6 著色滲透探傷劑 DPT-8 著色滲透探傷劑 DPT-9 環(huán)保型著色滲透探傷劑 DPT-GIII 著色滲透探傷劑 WPT-1 超高靈敏度著色滲透探傷劑 DPT-核 高靈敏度著色滲透探傷劑 WU-T 著色滲透探傷劑(核級(jí)) WU-ST 著色滲透探傷劑 DPT-DW 低溫著色滲透探傷劑 DPT-GW 高溫著色滲透探傷劑 CY-3800 熒光滲透劑(氣霧劑) 著色滲透探傷試塊
產(chǎn)品介紹: CY/P-B3不銹鋼鍍鉻三點(diǎn)式試塊:符合 JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005標(biāo)準(zhǔn)(B3) 用于各靈敏度級(jí)別著色,熒光滲透探傷的質(zhì)量控制。 CY/P-B5 不銹鋼鍍鉻五點(diǎn)式試塊:符合JB/T6064-2006標(biāo)準(zhǔn)(B5),主要用于高靈敏度 及超高靈敏度級(jí)別熒光探傷線的質(zhì)量控制。 CY/P-B6不銹鋼鍍鉻六點(diǎn)式試塊:在同一塊試塊上制作2組基本對(duì)稱(chēng)的大、中、小輻射裂 紋,裂紋分布符合JB/T 6064-2006及JB/T4730-2005,可代替鋁合金對(duì)比試塊用。 |