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詳細介紹
7.5Z6FG-HL00測厚探頭配CTS-49/59測厚儀
通用探頭
SIUI向用戶提供超過500種以上的工業(yè)超聲探頭產(chǎn)品，包括直探頭、斜探頭、窄脈沖探頭、分割式探頭、水浸探頭、聚焦探頭、可變角度探頭等多個系列，滿足各種探傷應用。除常規(guī)型號探頭外，各系列均可按客戶特殊需求進行定制。
京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產(chǎn)品計量，技術培訓，產(chǎn)品配件，儀器說明書。提供的無損檢測儀器設備包括：超聲檢測（UT）；射線檢測（RT）；滲透檢測（PT）；磁粉檢測（MT）；渦流檢測（ET）；超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲導波、超聲TOFD探傷儀、超聲波探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列、磁粉探傷機、X、γ輻射檢測儀。代理以下品牌：汕超、美國GE(德國KK）、奧林巴斯（Olympus NDT）、美國磁通（Magnaflux）、DAKOTA等
項 目 | 單位 | 性能指標和功能 |
工作模式 | 1) 標準(R-B1，始脈沖至第1次回波)； | |
測量范圍 | mm | 標準：0.8 ~ 400（鋼） |
|
| 注：與探頭、材料狀況、溫度及所選配置相關。 |
材料聲速 | m/s | 1000 ~ 9999 |
分辨力 | mm | 0.01mm / 0.1mm |
示值誤差 | mm | 配用5Z10FG-HC / 5Z10FG-HJ探頭時 |
增益調(diào)節(jié) |
| 低/標準/高 三檔可調(diào) |
校正模式 |
| 配機試塊自動校正 / 用戶自定義校正（單點校正/雙點校正） |
測量功能 |
| 小讀數(shù)俘獲、平均測量、設限測量、差值測量、快速測量 等軟件功能可選 |
可支持各種探頭 |
| 5M10FG-H（穿透涂層） |
動態(tài)測聲速功能 |
| 可利用輸入已知厚度，動態(tài)掃查測讀被測工件的聲速 |
智能電源功能 |
| 開機閑置一段時間后，儀器會自動關機； |
蜂鳴器 |
| 校準提示、超限提示 |
USB數(shù)據(jù)傳輸 |
| 通過USB接口把儀器內(nèi)部數(shù)據(jù)集轉存到PC機 |
存儲 |
| 5000組測厚數(shù)據(jù)（僅測量值，聲速值） |
雙晶探頭構成：
裝有兩個晶片的探頭，一個作為發(fā)射器，另一個作為接收器。又稱分割式探頭、或者聯(lián)合雙探頭。雙晶探頭主要由插座、外殼、隔聲層、發(fā)射晶片、接收晶片、延遲塊等組成。
雙晶探頭功能特點：
• 插座為電氣接口，通過探頭線連接到儀器上去
• 鋁合金外殼起到支撐、保護、電磁屏蔽的作用
• 超聲波聲束的發(fā)射由發(fā)射晶片完成
• 接收晶片將工件中反射回來的聲束轉換成電信號
• 發(fā)射晶片和接收晶片之間，貼合有隔聲層
• 晶片被粘結在延遲塊上，改變兩個延遲塊之間的夾角，可獲得不同的焦距值。
雙晶探頭應用：
雙晶探頭的用途與直探頭相似：使用垂直的縱波聲束掃查工件。
相對直探頭而言，雙晶直探頭具有更好的近表面缺陷檢出能力；對于粗糙或者彎曲的檢測面，具有更好的耦合效果。
典型直探頭用途示意圖：
雙晶斜探頭
斜探頭的一種特殊類型，內(nèi)置雙晶片（一發(fā)一收），結構以及工作原理如下圖：
接收客戶定制各種規(guī)格的雙晶斜探頭，定制時請告知頻率、晶片大小、折射角或K 值、焦點深度、前沿距離、外殼、接插頭等指標要求。
可拆式斜探頭
斜探頭的一種特殊類型，將斜探頭分成斜塊、探頭芯兩個部分，使用時將兩者組合起來。
雙晶直探頭規(guī)格型號：
超聲測厚儀是指用超聲波在介質中的脈沖反射對物體進行厚度測試的設備，超聲波測厚儀主要由主機和探頭兩部分組成。檢測超聲用于超聲探測金屬、陶瓷混凝土制品，甚至水庫大壩，檢查內(nèi)部是否有氣泡、空洞和裂紋。
測試原理
編輯
超聲測厚儀的工作原理如下：它的脈沖發(fā)生器以一個窄電脈沖激勵高阻尼壓電換能器，此脈沖為始脈沖，一部分由始脈沖激勵產(chǎn)生的超聲信號在材料界面反射，這信號稱為始波。其余部分透入材料，并從平行對面反射回來。這一返回信號稱為背面回波。始波與背面回波之間的時間間隔代表了超聲信號穿過被測件的聲程時間。 如測得聲程時間則可由下式確定被測件厚度，測厚時聲速是確定的。
式中d為被測件厚度，C為超聲波在被測件中的傳播速度（即聲速），t為聲程時間。
反之由上式可知，如測得工件厚度和聲程時間則可求出被測工件中的聲速，聲速是描述超聲波在介質中傳播特性的基本物理量，它的大小由傳播介質決定，即與材料的彈性模量、密度、超聲波波型和泊松比有關。金屬材料的彈性模量盡管對組織結構不敏感，但由于它與原子間作用力和原子間距有關，而原子間距與晶體結構有關，所以它還是受到組織結構的影響。此外金屬材料的密度從微觀上來講也與組織結構有關，而晶胞的體積則與組織結構有關，所以聲速與金屬材料內(nèi)部的組織結構有必然的聯(lián)系，這樣使用超聲波測厚儀測出被測件中的聲速變化，可判斷被測件中內(nèi)部組織結構的異常。
組成
編輯
超聲波測厚儀主要有主機和探頭兩部分組成。
主機電路包括發(fā)射電路、接收電路、計數(shù)顯示電路三部分，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波，脈沖波經(jīng)介質介面反射后被接收電路接收，通過單片機計數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過試樣的時間的一半而得到試樣的厚度。超聲波測厚儀在采用*技術的基礎上，運用單片機技術研制的一種低功耗低下限袖珍式的智能測量儀器，不僅有測量不同材質厚度的儀器，而且有單測鋼，超薄型的，同時均可配套高溫測厚探頭。
測厚儀分割式直探頭
5M10FG-HC配CTS-30C測厚儀
2Z12FG-H/HX
5Z6FG-H/HX
5Z8FG-H/HX
H配CTS-30B/CTS-30C
HX配CTS-39
2Z12FG-HL00配CTS-49/59
5Z10FG-HJL00配CTS-49/59
5Z10FG-GHL00配CTS-49/59
7.5Z6FG-HL00配CTS-49/59
5Z10FG-GH配CTS-30B/CTS-30C
7.5Z6FG-H配CTS-30B/CTS-30C
5Z10FG-HX配30/39
5Z10FG-HC配30A/B
名稱 | 型號 |
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測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-H | 5M10FG-H（穿透涂層專業(yè)）
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測厚儀分割式直探頭 | 5Z6FG-HX | 2Z12FG-H |
測厚儀分割式直探頭 | 5Z8FG-HX | 5Z6FG-H |
測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HX | 5Z8FG-H |
測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HC | 5Z10FG-H/HJ |
測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GH | 5Z10FG-GH(高溫） |
測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HX | 7.5Z6FG-H |
測厚儀分割式直探頭 | 2Z12FG-HL00 |
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測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-HJL00 |
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測厚儀分割式直探頭 | 5Z10FG-GHL00 |
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測厚儀分割式直探頭 | 7.5Z6FG-HL00 |
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GE/德國KK公司超聲橫波單晶斜探頭
具體型號：
WB45-1，
WB45-1-EN，WB45-O1，WB60-1，WB60-1-EN，WB60-O1，WB70-1，WB70-1-EN，WB70-O1，WB35-2，
WB35-2-EN，WB35-O2，WB35-O2EN，WB45-2，WB45-2-EN，WB45-O2，WB45-O2EN，WB60-2，WB60-2-EN，
WB60-O2，WB60-O2EN，WB70-2，WB70-2-EN，WB70-O2，WB70-O2EN，WB80-2，WB80-2-EN，WB80-O2，
WB90-2，WB90-2-EN，WB90-O2，WB35-4，WB35-O4，WB45-4，WB45-4-EN，WB45-O4，WB60-4，WB60-4-EN，
WB60-O4，WB70-4，WB70-4-EN，WB70-O4，WB80-4，WB80-O4，SWB45-2，SWB60-2，SWB70-2，SWB45-5，
SWB60-5，SWB70-5， WK45-2，WK60-2，WK70-2，SWK45-2，SWK60-2，SWK70-2
MWB35-2、MWB45-2、MWB60-2、MWB70-2、MWB35-4、MWB45-4、MWB60-4、MWB70-4、MWB80-4
電纜線： PKLL2 用于WB...,WK....
MPKL2 用于SWB..,SWK..
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