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詳細介紹
B4S（57746）美國GE保護膜探頭
應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
類型 | 訂購號碼 | D | f | N | 備注 | ||
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| mm | in | (MHz) | mm | in |
|
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
|
B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
|
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測
可更換保護膜，保護探頭不被磨損
柔性保護膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
接觸法探頭
接觸法直探頭, 帶保護膜
應用
• 一般檢測目的, 簡單形狀的大零件
• 鍛件, 鑄件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 機器零件, 殼體
• 高溫檢測時帶延遲塊
性能特征
• 歐款有可更換膜:
- 在不平整和曲面上增進耦合
- 延長探頭壽命
- 適于DGS缺陷評定
- 可連接高溫延遲塊
- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標準為側(cè)裝, 頂裝可選
• 美款有三種類型的保護:
- 膜可以在不平整和曲面上增進耦合.
- 耐磨帽定期更換可*延長探頭壽命
- 高溫延遲塊可以實現(xiàn) 00°F ( 00°C)表面檢測.
- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝
帶保護膜探頭—歐洲規(guī)格
B..S 和 MB..S 型
0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜
附件
描述 | 類型 | 備注 |
保護膜 （1套=10片） | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延遲塊或斜塊 | 特殊訂單 | 如用于高溫檢測 |
電纜線 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |
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