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LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀

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更新時間:2021-08-02 11:15:15瀏覽次數(shù):935

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領(lǐng)域 交通,冶金,航天,汽車    
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。

詳細介紹

LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀   

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法,是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。    

可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導電層厚度。

儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。

涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。


隨機附送儀器箱
(儀器的舉例)
  特點概述

大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈
校準選項
 出廠時已校準,立即可用
 在未知涂層上校準*
 零校準*
 在無涂層的基體上一點和多點校準*
 在有涂層的基體上校準*

校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中,也可以隨時調(diào)出

可選擇的顯示模式,以最佳形式去完成測量任務*
輸入和極限監(jiān)視*
Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理*
可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport
統(tǒng)計*

可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
最小值、最大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)
在線統(tǒng)計,所有統(tǒng)計值概括
LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭
* 取決于配置級別
  3種配置級別以更好的完成測量人任務
LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別

基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
高級型 - 附加統(tǒng)計評估
專業(yè)型 - 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲


如果針對新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計"和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲",便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。

這里有操作指南和制定模塊的參考說明。




通過解鎖代碼可以很方便的升級
(證書舉例)
  舉例:儀器上的用戶界面圖像
選擇菜單項目(例如:語言清單)

A語言清單
B卷軸條作為導航輔助



清晰的統(tǒng)計讀數(shù)值和當前測量值

C基體
D當前測量值
E“可以測量"提示
F單位
G最小值和最大值
H標準偏離
I平均值
K測量值數(shù)量



電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中

L顯示讀數(shù)的文件符號
M可自由選擇的文件名
N卷軸條作為導航輔助



  多樣的探頭
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。


探頭類型測量方法測量范圍訂貨號

標準探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方Fe0 - 3000 祄2442.100
標準探頭 NFe 0?/font>NFe0 - 1000 祄2442.130
標準探頭 NFe S 0?/font>NFe0 - 3750 祄2442.140
標準探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度Fe0.5 - 20 mm2442.120
標準探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位,例如:管子的內(nèi)部Fe0 - 3000 祄2442.110
雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如:管子的內(nèi)部涂層.Fe0.5 - 12.5 mm2442.200
微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:鉆孔的底部FeNFe0 - 500 祄2442.300
2442.310
微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位FeNFe0 - 500 祄2442.320
2442.330
微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如:管子的內(nèi)壁和鉆孔FeNFe0 - 500 祄2442.340
2442.350
注:點擊單獨的探頭圖片,可以得到更多詳細信息





  技術(shù)資料
數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB
電源:電池、充電電池、USB或外接電源
測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)
測量速度: 每秒測量個數(shù)值
存儲: 最多 9999 個數(shù)值,140個文件
誤差: 
涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準后) 
涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 
涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄 
涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄

  附件
試塊和膜片
探頭定位裝置 (適用于微型探頭)
定位輔助裝置 (適用于微型探頭)
電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理
電腦軟件 EasyExport 用于把單獨的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="ovctkbj" class="en" style="font-family: Arial, Helvetica, sans-serif; line-height: 20.8px;">Windows 程序里


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