溫變實(shí)驗(yàn)箱

溫變實(shí)驗(yàn)箱是一款模擬環(huán)境中的高低溫度在快速變化過程中是否會(huì)影響到工業(yè)產(chǎn)品、電子產(chǎn)品等眾多產(chǎn)業(yè)鏈的材料或成品的性能及物理變化。

溫變實(shí)驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：

GJB/150.3A-2009   裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB/150.4A-2009   裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

GB/T 5170.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）

GJB/150.9A-2009   裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分：濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008  高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件