局部放電檢測系統(tǒng)廠家

該局部放電檢測系統(tǒng)應(yīng)用于各類高壓電器設(shè)備的局放測量，代表國內(nèi)數(shù)字局放的*技術(shù)

標(biāo)準(zhǔn)支持：DLT417-91，DLT846.4-2004，GBT3048.12-2007，GBT7354-2003

KF-6209型局部放電檢測系統(tǒng)是我公司研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電測試儀的優(yōu)點(diǎn)和功能，并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn)，利用脈沖電流法原理研制而成，并滿足GB-7354-87、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測試對測試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測試的試品范圍廣、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)。并采用*的抗干擾組件和*的門顯示電路，抗*力強(qiáng)，并具有四種高頻橢圓掃描，適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn)，新產(chǎn)品研制試驗(yàn)，電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測試?？晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用。

局部放電檢測系統(tǒng)廠家

KF-6209型局部放電檢測系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

1．可測試品的電容范圍：6ｐF~250ｕF

2．檢測靈敏度及允許電流(見表1)。

3．橢圓掃描時(shí)基

(1) 頻率：50、100、150、200、400Ｈz

(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔，可旋轉(zhuǎn)120度。

(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線。

(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275Ｖ。

4．顯示單元

采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。

5．放大器

(1) 3dB低頻端頻fL：20、40KHz任選。

(2) 3dB高頻端頻率fH：200、300KHz任選。

(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%。

(4) 細(xì)調(diào)范圍：＞10倍。

(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對稱性：＜5%。

6．時(shí)間窗

(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。

(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度。

(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。

7、脈沖峰值表

(1) 線性指示：0~10*不大于5%。

(2)指示：1~10*不大于5%。

       表1  檢測靈敏度及輸入單元允許電流值

   輸入單元序號調(diào)電容范圍靈敏度(PC)

   (不平衡電路)允許電流有效值

   不平衡電路平衡電路

   16－25－100微微法0.0230mA0.25A

   225－100－400微微法0.0460mA0.5A

   3100－400－1500微微法0.06120mA1A

   4400－1500－6000微微法0.10.25A2A

   51500－6000－25000微微法0.20.5A4A

   60.006－0.025－0.1微法0.31A8A

   70.025－0.1－0.4微法0.52A15A

   80.1－0.4－1.5微法14A30A

   90.4－1.5－6.0微法1.58A60A

   101.5－6.0－25微法2.515A120A

   116.0－25－60微法525A200A

   1225－60－250微法1050A300A

   7R電阻0.52A15A

8、具有輔助識別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。

9、工作電源  220V±10%   工頻

10、體積：440×430×180mm

11、重量：約15Kg

1． 根據(jù)試品的容量Ca，耦合電容的大小Ck，選取適合序號的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級繞組并聯(lián)的電容（粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算）。例如：試品容量為120ｐF，耦合電容量為1000ｐF，則所需檢測阻抗為有          ≈107，查表1可取2號單元。

輸入單元應(yīng)盡量靠近試品，輸入單元經(jīng)8米長的測量電纜與放大器輸入插座相連。

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2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種

其中：Z為阻塞阻抗；

Ca為試品；

Ck為耦合電容。