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[供應]M4000 PLUS-全譜直讀光譜儀

貨物所在地:浙江杭州市

更新時間:2024-12-17 21:00:34

有效期:2024年12月17日 -- 2025年6月17日

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全譜直讀光譜儀性能優(yōu)勢
科研級CMOS檢測器,全元素分析,開創(chuàng)PPM級元素分析新紀元
噪聲低 科研級感光元件噪聲小,抗干擾強,具備防光暈技術
抗干擾 CMOS探測器集成度高,可避免外部電路引入噪聲
讀取速度快 采用OEO(Optimal Element-Oriented)技術,像素信號單獨讀取,實現參數優(yōu)化設計

產品概述

M4000 PLUS全譜直讀光譜儀,系聚光科技基于M4000系列產品,推出的升級產品。承載著聚光科技火花直讀光譜儀系列產品十余年技術積淀,加持新型科研級CMOS檢測器,以更高的靈敏度,更好的檢測效果,更快的分析速度,更廣的分析范圍,為用戶提供更好的金屬材料定量分析解決方案。

性能優(yōu)勢

科研級CMOS檢測器,全元素分析,開創(chuàng)PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小,抗干擾強,具備防光暈技術

抗干擾 CMOS探測器集成度高,可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO(Optimal Element-Oriented)技術,像素信號單獨讀取,實現參數優(yōu)化設計

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度,無需鍍膜,實現非金屬元素(N,C,S,P)分析,效果更優(yōu)

*的密封氬氣循環(huán)系統(tǒng)

光室密封性佳,可保持內部氬氣長期純凈

分析環(huán)境相當于真空光室10-3Pa,優(yōu)化了短波元素的分析性能

氬氣循環(huán)過濾裝置,可有效濾除空氣分子,提高光室的可靠性

光室內外壓力差幾乎為零,可有效避免大氣壓力引起的光學系統(tǒng)漂移進而提高產品的長期穩(wěn)定性

降低充氬系統(tǒng)的氬氣消耗,有效節(jié)約生產成本

聚光科技

穩(wěn)定性升級,重新定義光學產品穩(wěn)定性

壓鑄鋁合金整體光室,4級消除應力處理

光室恒溫設計,保證光譜位置長期穩(wěn)定,不漂移

氣流路的精確設計,一切為了結果更穩(wěn)定

RTMC光譜優(yōu)化技術,帶來更穩(wěn)定的體驗

全數字脈沖光源,自動選擇*能量保證分析的準確性與重復性

高性能,更高效,提升適用性

方便的樣品激發(fā)臺

開放式激發(fā)臺,內部體積進一步縮小,氬氣消耗大大降低

四路氬氣吹掃,有效清除殘留粉塵,降低激發(fā)臺維護量

聚光科技

個性化的的樣品夾具

可適用于分析各類大小形狀的樣品

人性化的一鍵式激發(fā)/停止按鈕

樣品裝載激發(fā)一氣呵成,無需軟件操作,直接得到數據結果

檢測時間大大縮短,有效提升工作效率

易用性升級,給用戶更簡單、高效的使用體驗

優(yōu)質硬件與特定算法的結合,多重穩(wěn)定保障,更好地監(jiān)控儀器運行狀態(tài),提升分析效果,減少校準頻率

支持全譜分析檢測,拓展性更高。增加分析基體和元素無需增加硬件,通過軟件即可擴展分析范圍,使用更靈活

智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求,真正實現未知樣品分析,無需糾結模型選擇,操作更加簡便

友好的人機交互設計,軟件主界面簡潔清晰,圖形化顯示,短時間即可學會并熟練操作軟件

新增遠程維護功能,可遠程升級固件程序,遠程檢查儀器狀態(tài),對儀器生命周期健康負責



應用領域

應用于冶金、鑄造、機械加工、鑄造、金屬材料科研、航空航天、造船、汽車、海關檢驗、第三方檢測等諸多領域。



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