徠卡DM12000M半導體檢測金相顯微鏡

徠卡DM12000M半導體檢測高端金相顯微鏡，可實現(xiàn)大型12寸晶圓觀察，常規(guī)金相材料、電子元器件、LCD、粉塵顆粒等樣品觀察分析?？膳浣?/span>Leica攝像頭，熱臺等配件。

DM12000M高級智能數(shù)字式正置顯微鏡，適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒等樣品觀察分析，多種安全設計，保護晶圓，鏡頭及觀察者。

徠卡DM12000M顯微鏡的晶圓檢測顯微鏡采用模塊設計，可實現(xiàn)反射觀察、透射觀察配置；

復消色差光路，整體支持25mm視野直徑；

DM1200M高端金相顯微鏡可選配UV光源，提高觀察分辨率至亞微米機構(gòu)，UV由大功率LED產(chǎn)生，具有UV和OUV功能；

徠卡研究機顯微鏡DM1200M配置12x12大樣品臺，可觀察晶圓，LCD等大尺寸樣品；

6孔位電動物鏡轉(zhuǎn)盤，配接32mm直徑長工作距離工業(yè)物鏡；

內(nèi)置電動或手動調(diào)焦系統(tǒng)；

徠卡精密復檢顯微鏡DM1200M獨有0.7x宏光物鏡，具有宏光晶圓檢查功能。

徠卡DM12000M半導體檢測高端金相顯微鏡產(chǎn)品特點：

四倍視野

徠卡DM12000M的宏觀放大功能，使您可以比傳統(tǒng)掃描物鏡多看四倍以上的視野。

人體工學設計

DM12000M顯微鏡非常適合長時間在顯微鏡上工作,直觀操作適應任何程度的使用者。

極限分辨率

作為高端金相顯微鏡，徠卡DM12000M全新的傾斜紫外模式(OUV) 在紫外光基礎上結(jié)合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限分辨率。