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芯片引腳共面性測(cè)試儀PZ-430D操作展示品智創(chuàng)思
發(fā)布時(shí)間:2025-03-25 播放次數(shù)302次
視頻簡(jiǎn)介

測(cè)量原理:

通過(guò)線激光對(duì)芯片有焊錫球及的表面,或者IC上的引腳面進(jìn)行掃描,采集出三維點(diǎn)集數(shù)據(jù),并由軟件處理生成工件的3D圖形,通過(guò)軟件算法提取3D圖中每個(gè)焊錫球的最高點(diǎn)或者點(diǎn),再用所有最高點(diǎn)或者點(diǎn)生成一個(gè)平面,并計(jì)算出平面度值即為焊錫球或者引腳共面性。

 

3.jpg

 

儀器結(jié)構(gòu):

設(shè)備采用固定龍門(mén)式XYZ三軸運(yùn)動(dòng)結(jié)構(gòu),內(nèi)部主體框架為大理石,可以保證穩(wěn)定的力學(xué)結(jié)構(gòu)。托盤(pán)和被測(cè)工件可放在工作臺(tái)玻璃上,前后運(yùn)動(dòng)至測(cè)量區(qū)域,線掃激光頭和視覺(jué)物鏡組合體可以沿著左右運(yùn)動(dòng)掃描測(cè)量,并可以上下調(diào)焦以便適應(yīng)不同高度面的測(cè)量。

 

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