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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀
  • Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀
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貨物所在地:上海上海市

地: 美國

更新時間:2024-08-19 09:34:28

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Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統(tǒng),該儀器具備實驗室研究級近紅外儀器所要求的性能,能夠適應(yīng)工業(yè)操作環(huán)境。該儀器和技術(shù)的成功應(yīng)用將為企業(yè)成倍提高工作效率、節(jié)省大量日常常規(guī)樣品檢測成本。

Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統(tǒng)

賽默飛世爾科技(原熱電公司)分子光譜部在中國具備的售前、服務(wù)體系,在中國建立有客戶演示和培訓(xùn)實驗中心(上海金橋)和規(guī)模大的零備件倉庫。Antaris傅立葉近紅外分析儀提供的是一個解決方案,客戶在購買、方法開發(fā)和實際應(yīng)用的每一個環(huán)節(jié)均能夠得到技術(shù)服務(wù)和支持。
                                                                                                                                                         
Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統(tǒng)

技術(shù)參數(shù):
1. 一臺儀器可同時集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊,任何狀態(tài)的樣品均可以方便得到快速檢測分析
2. 采用Nicolet高光通量高速動態(tài)準(zhǔn)直電磁式干涉儀
3. 采用CaF2分束器,在近紅外光譜區(qū)域內(nèi)具有更高的能量分布
4. 各個分析模塊均采用對近紅外光靈敏度高的InGaAs檢測器
5. 儀器與電腦間采用標(biāo)準(zhǔn)接口
6. 低使用和維護(hù)成本

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