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CMS2步驟具有額外的步驟測試(同時測定厚度和電化學電位)功能。用于多種鎳鍍層體系質量控制中單個鍍層厚度和電位差的標準化步進測試測量(根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022)。鍍層厚度的測量采用庫侖法,電位剖面采用鍍銀參比電極捕獲
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更新時間:2018-12-05 15:59:41瀏覽次數(shù):222
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FISCHERCMS2測量儀 FISCHERCMS2測量儀 FISCHERCMS2測量儀
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