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[供應(yīng)]DM4P-徠卡偏光顯微鏡
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  • DM4P-徠卡偏光顯微鏡
貨物所在地：
上海上海市
更新時間：
2024-09-16 21:00:06
有效期：
2024年9月16日 -- 2025年3月16日
已獲點擊：
67
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（聯(lián)系我們，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>

產(chǎn)品簡介

如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，徠卡偏光顯微鏡將是您的較好選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。
根據(jù)不同的應(yīng)用，您可以從三種不同的偏光顯微鏡系統(tǒng)中進行選擇：
*編碼的半自動 Leica DM4 P
手動 Leica DM2700 P
Leica DM750 P 教學(xué)顯微鏡

詳細介紹

*編碼的半自動徠卡偏光顯微鏡 DM4 P


如果您想要研究晶體結(jié)構(gòu)，徠卡偏光顯微鏡將是您的較好選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內(nèi)容，完成您的研究或質(zhì)量控制任務(wù)。


徠卡偏光顯微鏡助您獲得高質(zhì)量結(jié)果

您需要一些組件來實現(xiàn)偏光研究目標(biāo)。以下都是重要的組件：


  • 無應(yīng)力光學(xué)部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學(xué)部件

  • LED 照明至關(guān)重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫

  • 偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉(zhuǎn)臺幫助您對準(zhǔn)樣品和光軸

  • 您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務(wù)的補償器

恰到好處的照明！

徠卡正置偏光顯微鏡采用LED 照明，較鹵素照明優(yōu)勢更加明顯：


  • 它比鹵素照明消耗的能源少，而且無需更換，不會導(dǎo)致機器停機

  • LED 使用壽命長達 25,000 小時

  • LED 為樣品提供均勻照明，色溫恒定，為您提供真實的樣品形貌

  • LED 可快速調(diào)整光強，讓您的工作順暢無阻

  • LED 無需日光濾鏡，因為它已經(jīng)提供了 4500 K 恒定光溫

  • LED 產(chǎn)生的熱量少，因此無需冷卻風(fēng)扇

  • LED 可幫助您營造安靜無干擾的工作環(huán)境，因為沒有冷卻風(fēng)扇在周圍產(chǎn)生噪音

Leica DM4 P：多方位服務(wù)唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P 半自動正置偏光顯微鏡。

通過編碼組件存儲和調(diào)用信息

  • 想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調(diào)用照明強度和光闌的設(shè)置。

  • 得益于編碼物鏡轉(zhuǎn)盤的存在，攝取的圖像始終得到校準(zhǔn)。


辨識感興趣的結(jié)構(gòu)

  • 25-mm 大視場為您帶來優(yōu)質(zhì)的概覽圖像。

  • 為您展現(xiàn)所需具體信息的往往是低放大倍率下的整體圖，而不是細節(jié)圖 — 比如流動結(jié)構(gòu)、變形結(jié)構(gòu)或冷卻過程造成的帶狀排列結(jié)構(gòu)。

讓物鏡轉(zhuǎn)盤來應(yīng)對！

物鏡轉(zhuǎn)盤配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率，獲取豐富的樣品信息。


  • 使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結(jié)構(gòu)

  • 如要借助錐光法對光學(xué)屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率

  • 切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應(yīng)


而且物鏡轉(zhuǎn)盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 偏光顯微鏡配置為 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置為使用兩種光源。


  • 進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。

  • 進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質(zhì)薄片、聚合物薄膜或藥品。

  • 在地質(zhì)研究等特殊應(yīng)用中，兩種光都不可少。


當(dāng)顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關(guān)物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應(yīng)從 >10 倍的放大倍率開始使用。

強散色 Brookit (TiO2) 錐光圖
方解石厚片的單軸干涉圖，垂直于光軸
黑云母晶體薄片圓偏光雙軸干涉圖，對角位置。光軸位置清晰可辨

研究光學(xué)屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關(guān)研究材料光學(xué)屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學(xué)特性。

Leica DM4 P 非常適用于錐光法：


  • 具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應(yīng)力物鏡是該項應(yīng)用Bi備條件。

  • 使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的最高要求，從而獲取優(yōu)質(zhì)結(jié)果。


您的選擇：Leica DM4 P

借助編碼的功能性，可靈活適應(yīng)各種任務(wù)，操作安全簡單，適用于學(xué)術(shù)研究、操作新手或多用戶環(huán)境


  • 6 位編碼可調(diào)中物鏡轉(zhuǎn)盤

  • 照明和對比度管理，獲得可再現(xiàn)結(jié)果

  • 編碼錐光法，采用 1.6 倍放大倍率調(diào)節(jié)器

  • LED 照明狀態(tài)顯示

  • 360° 旋轉(zhuǎn)臺，帶或不帶 45° 卡位裝置

  • 無應(yīng)力光學(xué)部件

  • 偏振設(shè)備范圍廣泛

  • 固定或可變補償器，符合 DIN 58879



Leica DM4 P 正置顯微鏡



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