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詳細介紹
泰克 AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器
采用 InstaView™ 技術(shù)的 AFG31000 系列為內(nèi)置波形發(fā)生應(yīng)用程序、具有實時波形監(jiān)測功能并采用智能用戶界面的一款高性能任意波函數(shù)發(fā)生器。
驗證連接 DUT 后輸出波形
InstaView™ 技術(shù)用在任意波函數(shù)發(fā)生器上可直接查看連接 DUT 后的實時波形，無需使用示波器或其他設(shè)備，節(jié)省測試時間并避免因阻抗不匹配導(dǎo)致的實驗錯誤。
一分鐘內(nèi)完成雙脈沖測試
AFG31000 是一款包括內(nèi)置雙脈沖測試軟件的函數(shù)發(fā)生器?，F(xiàn)在，您可以在一分鐘內(nèi)直接在觸摸顯示屏上生成兩個具有可變脈沖寬度（從 20 ns 到 150 µs）的波形。無需使用外部 PC 應(yīng)用程序或手動編輯。
測量開關(guān)器件參數(shù)并評估 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的動態(tài)性能。
高保真度信號與高級模式
打開包裝后，在連續(xù)模式下每通道可以生成高達 16 M 點的精確長波形?？勺儾杉瘯r鐘技術(shù)確保您不再丟失任何波形數(shù)據(jù)。產(chǎn)品功能可升級，您可以進一步提高測試水平并只需花費傳統(tǒng) AWG 十分之一的成本進行復(fù)雜波形的創(chuàng)建和編輯。
產(chǎn)品選配功能升級，您可以：
※將內(nèi)存擴展為每通道 128 M 點（選件 MEM）
※多達 25 項輸入和控制的序列/觸發(fā)/選通模式（選件 SEQ）用于：循環(huán)、等待、跳轉(zhuǎn)、轉(zhuǎn)至、外部觸發(fā)輸入、
※手動觸發(fā)、定時觸發(fā)和 SCPI 命令，以便創(chuàng)建時序靈活、復(fù)雜的長波形。
簡化任意波形創(chuàng)建
內(nèi)置的 ARB 編輯工具 ArbBuilder 包括創(chuàng)建、編輯和傳輸任意波形的所有操作，無需連接 PC 或向 PC 傳輸文件。 幅度和偏置數(shù)據(jù)存儲在波形中，因此，在加載標準化 ARB 后，無需調(diào)整設(shè)置。
智能用戶界面
使用超大的 AFG 觸摸屏更快地學習和工作。 9 英寸的屏幕的工作原理和智能設(shè)備類似，因此，您可以通過手指縮放和滾動以便輕松找到設(shè)置和參數(shù)并查找常用設(shè)置的快捷鍵。
不止需要兩條通道？
如果您不止需要兩條波形通道來模擬被測設(shè)備 (DUT)，多臺同步設(shè)置用于快速同步兩臺或多臺設(shè)備。 通過屏幕向?qū)畔⒅笇?dǎo)您在三分鐘內(nèi)完成電纜連接和設(shè)置過程。
優(yōu)異的指標
※單或雙通道型號
※接到 50Ω 負載時的輸出幅度范圍 1 mVp-p 至 10 Vp-p
※基本 (AFG) 模式
25 MHz、50 MHz、100 MHz、150 MHz 或 250 MHz 正弦波形
250 MSa/s、500 MSa/s、1 GSa/s 或 2GSa/s 采樣率
14 位垂直分辨率
連續(xù)、調(diào)制、掃描與突發(fā)模式
各通道均具有 128 k 點的任意波形內(nèi)存
※高級模式
連續(xù)模式和選配序列、觸發(fā)和選通模式
各通道均具有 16 M 點的任意波形內(nèi)存（可選 128 M 點）
在包含循環(huán)、調(diào)整和等待事件的序列模式下多達 256 步
變量采樣時鐘 1 µSa/s 至 2 GSa/s
最小波形長度 168 點，粒度為 1 點
將噪聲和抖動降低 10 倍
由于噪音本底較低且輸出幅度低至 1mVpp，噪音和抖動技術(shù)規(guī)格比上一代技術(shù)好 10 倍，可以確保測試的清晰度和保真度。
在線升級
由于架構(gòu)基于軟件，您可以直接從網(wǎng)站使用滿足需求的選件升級 AFG31000。
當前可用
※帶寬升級
※內(nèi)存大小升級
※波形排序升級
泰克 AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器
技術(shù)參數(shù)
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