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當前位置：廣州貝拓科學技術有限公司>>X熒光光譜XRF能量色散型>>X射線熒光光譜儀>> X-MET8000日立手持式X射線熒光光譜儀
日立手持式X射線熒光光譜儀性能：
X-MET提供的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結果。通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度非常低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。
通過MIL-STD-810G耐用標準測試。
其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。
高級數據管理
*靈活：可將多達100,000條結果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。
日立手持式X射線熒光光譜儀技術參數：
應用
X-MET8000 | X-MET8000 | X-MET8000 | |
廢金屬回收 | √ | √ | √ |
材料可靠性鑒定(PMI)檢查 | √ | √ | |
制造與 PMI QA/QC | √ | √ | √ |
貴金屬 | √ | √ | √ |
監(jiān)管機構合規(guī)篩查 （消費品、包裝、原材料…） | √ | √ X-MET8000 Expert CG | |
環(huán)境土壤篩查 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
礦石和礦物 | √ X-MET8000 | √ X-MET8000 Expert Geo | |
金屬鍍層厚度測量 | √ | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG |
科技考古 | √ | √ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
比較型號
X-MET8000 Smart
X射線管：40kV
濾光片：單一
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達：400oC
符合 IP54 等級
Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
校準：基本參數法(FP)
內置攝像頭 （可選）
X-MET8000 Optimum
X射線管：40kV or 50kV
濾光片：6位濾光轉換器
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準：基本參數法 （包括輕元素分析）
內置攝像頭（可選）
小光班準直器（可選）
針對所有元素（從鎂到鈾）進行優(yōu)先分析的六位濾光片
X-MET8000 Expert
X射線管：50kV
濾光片：6位濾光轉換器
檢測器：大面積 SDD
樣本溫度可達：100oC 或通過 HERO™ 耐熱窗戶400oC（可選)
符合 IP54 等級
可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
校準方法：自動跳轉的經驗系數法（可進行追溯）
內置攝像頭
小光班準直器 （可選)
針對所有元素，從鎂到鈾，的優(yōu)先分析的六位濾光片
