MtiinstrumentsASP-25M-CTA電容探針

MtiinstrumentsASP-25M-CTA電容探針        MtiinstrumentsASP-25M-CTA電容探針

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MTI電容測(cè)量系統(tǒng)是基于平行板電容測(cè)量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測(cè)量探頭長(zhǎng)期以來一直被用作導(dǎo)電材料的非接觸式測(cè)量手段。在一個(gè)典型的系統(tǒng)溫度、濕度和壓力的不利影響MTI電容測(cè)量系統(tǒng)是基于平行板電容測(cè)量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個(gè)表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測(cè)量探頭長(zhǎng)期以來一直被用作導(dǎo)電材料的非接觸式測(cè)量手段。在一個(gè)典型的系統(tǒng)中，MTII的電容探頭充當(dāng)板之一，接地靶作為另一個(gè)板為了消除這些變化的影響，MTII開發(fā)了一種稱為推拉的Accu測(cè)量傳感器的*版本。在本設(shè)計(jì)中，每個(gè)探頭由兩個(gè)電容傳感器組成，組成一個(gè)探頭體。每個(gè)傳感器在相同的電壓下驅(qū)動(dòng)，但是信號(hào)之間有180度的相移。這一轉(zhuǎn)變?cè)试S當(dāng)前的路徑穿越目標(biāo)表面，而不是通過目標(biāo)到地面，消除了由不精確的目標(biāo)造成的任何不準(zhǔn)確現(xiàn)象。此外，這種技術(shù)可以測(cè)量高電阻的目標(biāo)，允許電容傳感器用于半絕緣和半導(dǎo)電目標(biāo)(用于位置、間隙和振動(dòng)測(cè)量應(yīng)用。