MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針

MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針      MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針

MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針      MtiinstrumentsASP-50M-CTR電容探針

MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化作導(dǎo)電材料的非接觸式測電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導(dǎo)電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段。在一個典型與目標(biāo)表面之間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來用作導(dǎo)電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探頭長期以式測量手段期以式測量手段MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導(dǎo)電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探期以式測量手段MTI電容測量系統(tǒng)是基于平行板電容測量原理的。電容探頭與目標(biāo)表面之間形成的電容隨這兩個表面之間的距離(間隙)的變化而變化。電容測量探頭長期以來一直被用作導(dǎo)電材料的非接觸式測量手段。在一個典型與目電容測量探