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SmartZap ESD tester-靜電槍自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
  • SmartZap ESD tester-靜電槍自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
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貨物所在地:湖南長(zhǎng)沙市

地: 美國

更新時(shí)間:2024-06-26 21:00:05

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SmartZap是一款具有自動(dòng)故障檢測(cè)功能的全自動(dòng)靜電槍測(cè)試儀,其性能遠(yuǎn)優(yōu)于手動(dòng)靜電測(cè)試。 符合IEC61000-4-2測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。

SmartZap靜電槍自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)

SmartZap是一款具有自動(dòng)故障檢測(cè)功能的全自動(dòng)靜電槍測(cè)試儀,其性能遠(yuǎn)優(yōu)于手動(dòng)靜電測(cè)試。 符合IEC61000-4-2測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。


主要特點(diǎn):

- 支持各類型號(hào)的靜電槍

- 五個(gè)側(cè)面擊打(頂部和四個(gè)側(cè)面)

- 自動(dòng)故障檢測(cè)

- 挑選和放置

- 自動(dòng)更換槍頭 (接觸?à 空氣)

- 連接器插頭/拔出

- DUT 翻轉(zhuǎn)

- 可定制的報(bào)告生成

- 通過圖形界面定義測(cè)試點(diǎn)

- 自動(dòng)DUT偏移校正

- 按鍵和觸摸屏手指

- 放電刷

- 符合IEC 61000 4 2的打擊桌子

- 管腳測(cè)試

- 基于腳本的測(cè)試流程

故障檢測(cè):

FD模塊包括四個(gè)模擬信號(hào)和四個(gè)數(shù)字信號(hào)的監(jiān)測(cè)、來自光電傳感器和1KHz聲音的輸入、與呼叫箱、繼電器和120V/5A電源的通信,用于DUT的電源循環(huán)。

-對(duì)監(jiān)測(cè)信號(hào)進(jìn)行布爾運(yùn)算以篩選故障類型

-宏功能,用于逐步控制故障檢測(cè)和功率循環(huán)程序。

自動(dòng)化功能:

–氣動(dòng)的所有自動(dòng)功能,無需附加的電動(dòng)附件。

-DUT取放

-槍頭更換

-連接器插頭/拔出

-DUT翻轉(zhuǎn)

-DUT偏移校正:當(dāng)DUT與原始位置略微偏離時(shí),將自動(dòng)調(diào)整定義的測(cè)試點(diǎn)。


SmartZap 規(guī)格:

1.png

機(jī)械手

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SmartZap - 選件:

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系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試

系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試的方法在IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)中已標(biāo)準(zhǔn)化。 該標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置了要求,并提供了有關(guān)測(cè)試設(shè)置的信息。 標(biāo)準(zhǔn)制定機(jī)構(gòu)考慮了手動(dòng)測(cè)試,但不排除機(jī)器人測(cè)試。 考慮到手動(dòng)測(cè)試,已經(jīng)設(shè)置了許多最小參數(shù),從而導(dǎo)致了可重復(fù)性問題。

三個(gè)主要參數(shù)是:

·放電次數(shù)

每個(gè)測(cè)試點(diǎn)的放電次數(shù)設(shè)置為10。這是一個(gè)非常低的數(shù)字來捕捉敏感窗口。在很短的一段時(shí)間內(nèi),受驗(yàn)設(shè)備對(duì)靜電放電更加敏感。這些窗口通常是由軟件活動(dòng)引起的。Bob RenningerHabiger研究了機(jī)會(huì)窗口的影響和達(dá)到統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定結(jié)果所需的脈沖數(shù),并將其應(yīng)用到ANSI ESDC63.16節(jié)標(biāo)準(zhǔn)(草案)。簡(jiǎn)而言之,分析表明:人們必須運(yùn)用更多的脈沖來捕捉機(jī)會(huì)之窗。準(zhǔn)確的數(shù)字取決于靈敏度隨時(shí)間的分布。制定標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)構(gòu),明知故犯地忽略了這些事實(shí),因?yàn)槌蓡T們不想強(qiáng)迫每個(gè)實(shí)驗(yàn)室執(zhí)行例如,每個(gè)測(cè)試點(diǎn)100次放電,特別是在空氣放電模式下。然而,為了從大量的放電中獲得統(tǒng)計(jì)上穩(wěn)定的結(jié)果是需要的。

·接近速度、接近角

空氣放電測(cè)試很大程度上取決于電弧的長(zhǎng)度。對(duì)于相同的測(cè)試點(diǎn)和電壓,電弧的長(zhǎng)度可以變化很大。這些變化部分來自統(tǒng)計(jì)性質(zhì),但也受方法執(zhí)行方式的影響。在較高的接近速度下(這是標(biāo)準(zhǔn)制定機(jī)構(gòu)的意圖),上升時(shí)間平均較低,峰值平均較高。該標(biāo)準(zhǔn)對(duì)預(yù)期的接近速度幾乎沒有深入了解。一些測(cè)試實(shí)驗(yàn)室甚至將帶電的空氣放電底部拖過產(chǎn)品(與塑料表面接觸)以查看是否發(fā)生放電。這是一個(gè)非常危險(xiǎn)的做法,因?yàn)檫@可能導(dǎo)致高過電壓的esd具有不真實(shí)的低上升時(shí)間。重要的是控制接近的方式(直達(dá)預(yù)期放電點(diǎn))和控制靜電放電發(fā)生器的角度,因?yàn)檫@將影響放電電流(微弱),但對(duì)產(chǎn)品的耦合強(qiáng)烈。

如果發(fā)生上升速度快得多的放電,操作員無法在手動(dòng)系統(tǒng)級(jí)測(cè)試中了解。

·電壓增量

電壓通常以大增量設(shè)置,如2、4、8千伏,只報(bào)告通過或失敗。從對(duì)比試驗(yàn)室的角度來看,了解故障水平是很重要的。例如,如果一個(gè)實(shí)驗(yàn)室通過了8千伏(包括8千伏),但產(chǎn)品在8.001號(hào)如果然后在另一個(gè)實(shí)驗(yàn)室重新測(cè)試并在8kV下失敗,那么測(cè)試的不確定度可能只有0.001分千伏。當(dāng)然,ESD測(cè)試中的實(shí)際不確定性要高得多,但是這個(gè)例子說明我們不僅需要通過/失敗,而且還需要失敗級(jí)別。只有當(dāng)電壓以相對(duì)較小的增量(可能是1000V)增加時(shí),才能發(fā)現(xiàn)這種情況。標(biāo)準(zhǔn)制定機(jī)構(gòu)不希望要求這樣做,因?yàn)?/span>

手部操作人員承受的壓力被認(rèn)為過高。

·重復(fù)率

空氣放電的測(cè)試通常在每秒1個(gè)脈沖時(shí)進(jìn)行。理論上,如果能夠(1)消除放電之間的電荷,(2)驗(yàn)證EUT3)的功能,并且能夠?qū)?/span>ESD發(fā)生器移回放電位置,則測(cè)試速度會(huì)快得多。在手試中,這是很難實(shí)現(xiàn)的。然而,在機(jī)器人測(cè)試中,即使在空氣放電測(cè)試中也可以獲得更快的速度。





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