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器件級靜電放電解決方案: TLP傳輸線脈沖測試系統(tǒng) ESD測試儀(HBM、HMM、MM) ESD靜電和閂鎖測試系統(tǒng) CDM充電器件模型測試機 LVS低壓浪涌系統(tǒng) 傳輸線脈沖發(fā)生器過電應(yīng)力模擬發(fā)生器 ES631-以太網(wǎng)線纜放電（CDE）測評系統(tǒng)

系統(tǒng)級靜電放電解決方案: 靜電放電模擬器空氣式靜電放電工作臺高阻高壓表靜電槍校準電流靶和適配器電纜放電測評系統(tǒng)（CDE） E0S測試脈沖發(fā)生器 ESD測試環(huán)境

EMC自動化掃描測試方案: EMC掃描測試方案 ESD掃描測試方案

光器件測試系統(tǒng)

光通訊測試設(shè)備和測試系統(tǒng)

可編程直流電源

四路源表

半導(dǎo)體測試設(shè)備: FS-Por

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產(chǎn)品簡介詳細介紹

ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)，能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。

ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)

1.描述

ES62X-LVS 型低壓浪涌系統(tǒng)能夠輸出符合IEC 61000-4-5，GR-1089-CORE和C62.45-2002標準的雷電浪涌特性波形，用于晶圓級和封裝級器件的浪涌敏感度測試。系統(tǒng)具有瞬態(tài)波形測量和靜態(tài)IV曲線測試功能，便于確定被測器件的ESD損傷閾值。

脈沖發(fā)生器的設(shè)計和脈沖輸出方法保證了被測器件端（而非發(fā)生器輸出端）的波形性能。系統(tǒng)能夠獲取浪涌脈沖注入時的瞬態(tài)電流和電壓波形，用于分析包括ESD保護器件開啟電壓等級在內(nèi)的被測器件ESD特性。通過對比脈沖注入時的電壓波形變化，還能夠判定故障等級。

2.特點

1V至500V電壓范圍內(nèi)波形干凈，線性度高
全隔離的放電電路
軟件控制，自動化測量
損傷閾值自動監(jiān)測（含DC漏電測量及靜態(tài)IV掃描）

3.應(yīng)用

基于IEC61000-4-5 8 /20μs標準，進行電源、驅(qū)動PCB、通信系統(tǒng)、LCD顯示屏等模塊的浪涌抗擾度測試
進行晶圓、封裝和PCB級的浪涌脈沖敏感度測試
10 /1000μs波形的晶圓、封裝、PCB和系統(tǒng)級浪涌敏感度和抗擾度測試

4.規(guī)格

參數(shù)	LVS-500-8/20 選項	LVS-500-10/1000 選項	單位
輸出電壓（開路負載）	1 – 500	1 – 500	V
輸出電流（短路負載）	0.5 – 250	0.12 – 55	A
輸出精度	± 5 %	± 5 %	%
輸出電阻	2 ± 10%	9 ± 10%	?
短路電流波前時間	8 ± 20 %	10 – 40 %	µs
短路電流半峰值時間	20 ± 20 %	1000 +20 %	µs
開路電壓波前時間	1.2 ± 30 %	10 – 40 %	µs
開路電壓半峰值時間	50 ± 20 %	1000 +50 %	µs
尺寸	347 X 300 X 145		mm
重量	12		kg
電壓探頭	無源電壓探頭, 101:1
電流探頭	無源電流探頭, 0.1 V/A

5.訂購信息

編號	型號	描述
低壓浪涌IV曲線系統(tǒng)
1.0	ES62X-LVS	ES62X-LVS 低壓浪涌系統(tǒng)主機
1.1	LVS-500-8/20	8/20 低壓浪涌模塊, 最大電壓500V
1.2	LVS-500-10/1000	10/1000 低壓浪涌模塊, 最大電壓 500V
其他選項
2.1	KSMU2400	SMU, 200V, 1A, 20W, 單通道 (被測器件DC自動失效檢測))
2.2	ES62X-CMPS	簡易手動探針臺
2.3	ES62X-XYZM-TIM	XYZ 微動探針座, XYZ 行程500 mils，步進0.01mm
2.4	ES62X-XYZM-PAA	PCB 電壓測量探針臂組件
2.5	ES62X-XYZM-GAA	接地探針臂組件
2.6	ES62X-XYZM-PP048	048 彈簧探針
2.7	ES62X-XYZM-PP075	075 彈簧探針
2.8	ES62X-XYZM-TN1	鎢鋼針 – 針尖尺寸5 mils ES62X-LVS低壓浪涌系統(tǒng)