日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505 返回列表頁(yè)

日本三豐顯微鏡VMU-V 378-505 

使用示例：半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn) 品質(zhì)管理系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng) 外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元 微生物等運(yùn)動(dòng)物體的觀察 等

可安裝數(shù)碼相機(jī)，通過(guò)外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。 可實(shí)現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。 與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。 ★金屬、樹(shù)脂、印刷面等表面觀察拍攝 ★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng) ★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

VMU

378 系列 — 視頻顯微鏡系統(tǒng)

顯微鏡單元 物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

緊湊輕量型顯微鏡，相機(jī)觀察型。適于

檢測(cè)金屬表面、半導(dǎo)體、液晶面板、樹(shù)脂等。

• 多種鏡體通常用作適用于專(zhuān)業(yè)器械的OEM

(原廠委制) 產(chǎn)品，如那些利用YAG (近紅外、

可見(jiàn)、近紫外或紫外) 激光* 對(duì)半導(dǎo)體晶片

進(jìn)行檢測(cè)和修補(bǔ)的設(shè)備。

* 不保證激光系統(tǒng)產(chǎn)品的性能和安全性。

應(yīng)用：切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做

標(biāo)記/ 薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色

濾光器的修復(fù) (校正錯(cuò)誤)。還可用作光學(xué)觀

察剖面圖以便探頭分析半導(dǎo)體故障。

• 對(duì)于VMU-LB 和 VMU-LB， 顯微鏡主件的剛度

和總體性能與之前的型號(hào)相比已有所提高。

• 應(yīng)用*: 晶體硅的內(nèi)部觀察、紅外光譜特征

分析等。

* 需要紅外光源和紅外攝像機(jī)。

• 配有孔徑光闌的遠(yuǎn)心光學(xué)系統(tǒng)是表面照明

光學(xué)系統(tǒng)上的標(biāo)準(zhǔn)配件。于需要均勻

照明的圖像處理?？捎糜诔叽鐪y(cè)量、形狀

檢驗(yàn)、定位等。

• 設(shè)計(jì)和制造均能滿(mǎn)足您的需求，如雙攝影

機(jī)架、雙(低/ 高) 放大率觀察

 VMU-V

 378-505

Mitutoyo三豐顯微鏡單元

日本三豐物鏡(紫外、近紫外、可視、近紅外)

用于半導(dǎo)體、電子、液晶相關(guān)等產(chǎn)品的生產(chǎn)

品質(zhì)管理系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)研究裝置使用的光學(xué)系統(tǒng)

外觀檢查系統(tǒng)的嵌入式光學(xué)單元

微生物等運(yùn)動(dòng)物體的觀察　等

可安裝數(shù)碼相機(jī)，通過(guò)外部顯示器進(jìn)行觀察和拍攝。

可實(shí)現(xiàn)橫向水平、上下顛倒等高自由度的固定方法。

與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。

　★金屬、樹(shù)脂、印刷面等表面觀察拍攝

　★微量流體分析用光學(xué)系統(tǒng)

　★以觀察和分析細(xì)胞、微生物等為目的的光學(xué)系統(tǒng)

M Plan Apo NIR系列等支持紅外區(qū)的物鏡組合，可在紅外線下實(shí)

現(xiàn)可見(jiàn)光下做不到的非破壞性檢查。

　★液晶薄膜、硅基板等的厚度測(cè)量

　★MEMS內(nèi)部的非破壞評(píng)價(jià)、三維安裝評(píng)價(jià)

　★半導(dǎo)體封裝(IC)的內(nèi)部觀察、晶圓鍵合空洞評(píng)價(jià)傳感器

　★紅外分光特性分析

通過(guò)VMU-LB和固定倍率觀察用相機(jī)卡口的

組合，能夠?qū)ν晃恢靡圆煌堵释瑫r(shí)觀

察。

(低倍率側(cè)：2/3型、高倍率側(cè)：1/2型等)

通過(guò)與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合，可實(shí)現(xiàn)高精度、高

品質(zhì)加工。

與簡(jiǎn)易支架一起使用，還可作為緊湊型顯微鏡使用。

　★保護(hù)膜、有機(jī)薄膜等的剝離

　★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露

　★FPD的各種缺陷修正

　★光掩模修正

　★標(biāo)記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線

憑借長(zhǎng)動(dòng)作距離設(shè)計(jì)的物鏡，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的操作性。

與定位器、探針臺(tái)等組合。

通過(guò)與激光加工裝置組合，還可支持不良分析→部分修正無(wú)縫銜接的系統(tǒng)。

此外，還提供支持隔著玻璃的、真空內(nèi)的外觀檢查的系統(tǒng)

日本三豐Mitutoyo 378-888-6物鏡M Plan Apo NUV HR 50X

日本三豐Mitutoyo 378-868-5 50X物鏡M Plan Apo NIR B

日本三豐Mitutoyo 378-867-5 20X物鏡M Plan Apo NIR B

日本三豐Mitutoyo 378-864-5 100X物鏡M Plan Apo NIR HR

日本三豐Mitutoyo 378-863-5 50X物鏡M Plan Apo NIR HR

日本三豐Mitutoyo 378-848-3 50X物鏡G Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-847 20X物鏡G Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-846-7 100X物鏡BD Plan Apo HR

日本三豐Mitutoyo 378-845-7 50X物鏡BD Plan Apo HR

日本三豐Mitutoyo 378-844-15物鏡M Plan UV 10X

日本三豐Mitutoyo 378-843-7 100X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-843-5 100X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-842-7 80X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-841-7 50X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-840-7 20X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-840-5 20X物鏡BD Plan Apo SL

日本三豐Mitutoyo 378-839-5物鏡M Plan UV 80X

日本三豐Mitutoyo 378-838-8物鏡M Plan UV 50X

日本三豐Mitutoyo 378-837-8物鏡M Plan UV 20X

日本三豐Mitutoyo 378-837-7物鏡M PLAN UV BF 20X

日本三豐Mitutoyo 378-836-7 100X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-835-7 50X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-834-7 20X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-833-7 10X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-832-7 5X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-831-7 2X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-830-7 7.5X物鏡BD Plan Apo

日本三豐Mitutoyo 378-829-5物鏡LCD Plan Apo NIR 100X

日本三豐Mitutoyo 378-828-5物鏡LCD Plan Apo NIR 50X

日本三豐Mitutoyo 378-827-5物鏡LCD Plan Apo NIR 20X

日本三豐Mitutoyo 378-826-5物鏡M Plan Apo NIR 100X

日本三豐Mitutoyo 378-824-5 20X物鏡M Plan Apo NIR

日本三豐Mitutoyo 378-823-5 10X物鏡M Plan Apo NIR

MITSUBISHI電流表YS-8NAA BR 0-60-180A

SHINKO神港溫度傳感器PCE-707L

TOEI卡尺CR1525

OJIDEN腳踏開(kāi)關(guān)OFL-ZG-SM2

LINE萊茵溫度計(jì)KF-14A

LINE萊茵溫度計(jì)KM-62A

hioki傳感器Z2000

OJIDEN腳踏開(kāi)關(guān)OFL-1-SM2C

alfamirage數(shù)碼顯微鏡DIM-03

ACCRETECH東京精密E-RM-S246B

ACCRETECH東京精密濾水器L-WF-R08B

DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F191

DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F192

DKKPH標(biāo)準(zhǔn)液143F193

HIOKI泄漏電流測(cè)試儀ST5541

HIOKI無(wú)線通用單元LR8511

Shinetsu信越熱縮管ST-15DG-0.5

TML GFLT-1A-11-002LE-F

HIOKI LCR測(cè)試儀 IM3536

Anton Parr密度計(jì)DMA35

OBISHI水平儀AD203

SK(NIIGATA SEIKI)水平儀DL-S3LC

METROL傳感器P10DA-15-01V

AIKOH推拉力計(jì)RZ-5

SHIBATA空氣泵MP-Σ30NⅡ

SHIBADA空氣泵MP-Σ300NⅡ

SHIBADA充電器QC-10N

TOA-DKK電極5910-5F

TOA-DKK電極5613-5F

TOA-DKK電極5500-5F

TOA-DKK電極2613-5F

ACCRETECH東京精密DM43827

NISSIN尋邊器PTN-10 W/ST-6x40NM

ADVANTECH濾紙00023600

ADVANTECH測(cè)針EM46000-S408

AIKOH測(cè)試臺(tái)MODEL-1308U

OBISHI水平儀JB101

OBISHI水平儀JB103

OBISHI水平儀JK103

OBISHI水平儀JL102

ACCRETECH測(cè)針DM45504

IIJIMA飯島電子WA-SGF

Mitutoyo測(cè)針12AAE911

Hioki測(cè)試線9455

Hioki測(cè)試線L2233

Mitutoyo環(huán)規(guī)177-314(R-62)

Mitutoyo測(cè)頭120049

Mitutoyo量塊611506-02

Mitutoyo充電器UN305-7508

Mitutoyo微分頭110-105

MIYACHI壓力傳感器MA-522B

Mitutoyo數(shù)據(jù)線05CZA662

MIYACHI電流檢測(cè)儀MM-315B-00-00 100V

MEIKIKOU升降臺(tái)LM605AU-4-600-3-200

Funatech綠光燈FY-18N

Funatech綠光片F(xiàn)Y-18N用

Mitutoyo物鏡378-822-5

MITUTOYO線性測(cè)微儀575-327-5

ACCRETECH測(cè)針DM45504

ACCRETECH測(cè)針DM43827

ACCRETECH測(cè)針0102800

ACCRETECH倍率校正器E-MC-S50C

Dylec濾紙TX40HI20-WW47mm

MITUTOYO金剛石壓頭19BAA034

MITUTOYO金剛石壓頭19BAA037

RENISHAW機(jī)床測(cè)頭OMP60

Osaki大崎電源 HD-12SY

日置數(shù)據(jù)采集單元LR8501

Morimitu盛光剪刀HSLD-0427

MEIKIKOU輥筒電機(jī)LM605AU-4-600-3-200