MD-1型粉塵粒度分析

一、產品介紹

本產品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

主要用于實驗室測定粉塵粒度分布。

二、產品參數(shù)

（1）粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm。測定粉塵累積質量篩上分布，粉塵粒度分級為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）測定誤差：d＜40µm時，粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%；
（3）工作電源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。

三、產品特點

（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。
（2）讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。
（3）儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

并且給的是顆粒圖像的直觀數(shù)據(jù)，容易理解。但其缺點是樣品制備過程會對結果產生嚴重影響，如樣品制備的分散性，直接會影響電鏡觀察質量和分析結果。電鏡取樣量少，會產生取樣過程的非代表性。

適合電鏡法粒度分析的儀器主要有掃描電鏡和透射電鏡。普通掃描電鏡的顆粒分辨率一般在6nm左右，場發(fā)射掃描電鏡的分辨率可以達到0.5nm。

掃描電鏡對納米粉體樣品可以進行溶液分散法制樣，也可以直接進行干粉制樣。對樣品制備的要求比較低，但由于電鏡對樣品有求有一定的導電性能，因此，對于非導電性樣品需要進行表面蒸鍍導電層如表面蒸金，蒸碳等。一般顆粒在10納米以下的樣品比較不能蒸金，因為金顆粒的大小在8納米左右，會產生干擾的，應采取蒸碳方式。

掃描電鏡有很大的掃描范圍，原則上從1nm到mm量級均可以用掃描電鏡進行粒度分析。而對于透射電鏡，由于需要電子束透過樣品，因此，適用的粒度分析范圍在1-300nm之間。

對于電鏡法粒度分析還可以和電鏡的其他技術連用，可以實現(xiàn)對顆粒成份和晶體結構的測定，這是其他粒度分析法不能實現(xiàn)的。

MD-1型粉塵粒度分析儀