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產品簡介
詳細介紹
LDJD-B型介質損耗因數測試儀在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。
適用標準
GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法》(等效IEC 60250:1969)
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
LDJD-B型介質損耗因數測試儀主要參數:
*1.信號源: DDS數字合成信號 10kHZ-70MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數
3.Q值測量范圍:1~1023
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
*5.電感測量范圍:1nH~8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6.電容直接測量范圍:1pF~2.5uF
*7.主電容調節(jié)范圍:30~540pF
8.準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%
9.信號源頻率覆蓋范圍10kHz~70MHz
10.合格指示預置功能范圍:5~1000
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13. S916(數顯)介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置:
數顯式微桿
平板電容器:
極片尺寸: 38mm
極片間距可調范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1:
分別由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。
15. 主機尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280
16. 重量約:7KG
產品特點
北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司新研制的產品,它以DDS數字直接合成方式產生信號源,頻率范圍達10kHZ-70MHZ,信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點,更保證了測量精度的精確性。LDJD-B主電容調節(jié)用傳感器感應,電容讀數精確,且頻率值可設置。
LDJD-B型介電常數及介質損耗測試儀的電容、電感、Q值、頻率、量程都用數字顯示,在某一點頻率下,只要能找到諧振,都能直接讀出電感、電容值,大大擴展了電感的測量范圍,而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。LJD-B*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能,能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點,自動讀出Q值和其它參數。Q值量程可手動或自動轉換。