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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
光學(xué)薄膜納米厚度測(cè)量?jī)x
操作簡(jiǎn)單且高性價(jià)比的減反射與硬涂層檢測(cè)
Filmetrics F10-ARc使得自動(dòng)測(cè)試眼科涂層變得又快又簡(jiǎn)便?，F(xiàn)在，不論生產(chǎn)線操作人員還是研發(fā)技術(shù)人員都能在幾秒鐘內(nèi)檢測(cè)和記錄涂層情況。
多重光譜比較
目標(biāo)光譜與多重反射光譜比較–自動(dòng)評(píng)估反射率，小/大位置，并得出明確的讀數(shù)結(jié)論。
量化殘余顏色
殘余顏色可以用基本的色彩空間系統(tǒng)形象化的顯示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。
使用Hardcoat Upgrade軟件升級(jí)許可來測(cè)試厚度
可選配的Filmetrics FFT算法已經(jīng)在*眾多的硬涂層測(cè)試應(yīng)用中使用。單擊鼠標(biāo)即可同事測(cè)量硬涂層和底漆層厚度。
光學(xué)薄膜納米厚度測(cè)量?jī)x操作非常簡(jiǎn)單
只需要將F10-ARc用一根USB線連接到電腦上，就可以做后面的測(cè)試?；贔ilmetrics的技術(shù)，F(xiàn)10-ARc不需要像其他光譜儀那樣需要做諸多校準(zhǔn)，比如積分時(shí)間校準(zhǔn)、基準(zhǔn)校準(zhǔn)，并且擁有使用壽命達(dá)到40000個(gè)小時(shí)的光源和自動(dòng)波長(zhǎng)校準(zhǔn)，無需保養(yǎng)而且測(cè)試非?？煽?。
光譜儀 | |
波長(zhǎng)范圍： | 380 - 1050 nm |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度： | < 0.5 nm |
波長(zhǎng)可重復(fù)性： | 0.1 nm |
當(dāng)R < RStd 1時(shí)精度： 0.01* RStd 1 Std | |
當(dāng)R > RStd 1時(shí)精度： 0.01 * Rmax / RStd 1 | |
噪音： | < 0.0002 A rms |
雜散光： | 在500 nm時(shí)< 0.25% |
厚度 (需選配Hardcoat upgrade軟件升級(jí)包) | |
測(cè)量范圍2,3： | 0.2 - 15 μm |
準(zhǔn)確度： 厚度的0.2%或0.01 μm較大者 | |
精度4： | 好于0.001 μm |
基本要求 | ||
探頭光斑尺寸： | 100 μm | |
光源使用壽命 | 內(nèi)置, 40000小時(shí) | |
電源要求： | 2W, USB-supplied | |
電腦要求 | ||
處理器速度： | 1 GHz min | |
接口： | USB 1.0 (推薦USB2.0) | |
操作系統(tǒng) | ||
PC: | Windows XP(SP2) - Windows 8(64-bit) | |
Mac: | OS X Lion/Mountain Lion running Parallels | |