產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
生物膜層納米厚度測量儀
經(jīng)濟(jì)適用的反射式測試系統(tǒng)
F3系統(tǒng)通過采集膜層的反射光譜曲線,進(jìn)而分析薄膜厚度及光學(xué)常數(shù),可選配F3型號的不同系列,來滿足不同的厚度和光學(xué)常數(shù)測試需求。其通用型號配置40,000小時適用壽命的光源及自動波長校準(zhǔn),大大增強(qiáng)了系統(tǒng)的穩(wěn)定性。F3型號有四種波長范圍的系列,可以覆蓋光譜波長范圍從190納米至1700納米。
快速厚度測試
升級厚度測試軟件升級許可后,厚度值將在測試數(shù)據(jù)結(jié)果中直觀的顯示。同時軟件中也存入了許多常用的介質(zhì)材料及半導(dǎo)體層的材料信息。
光學(xué)常數(shù)測試功能(n 和 k)
對于更高測試要求用戶, 只需要升級光學(xué)常數(shù)軟件升級包即可在短時間內(nèi)測試材料的折射率和消光系數(shù)
生物膜層納米厚度測量儀
相關(guān)應(yīng)用 |
光學(xué)鍍層 |
硬涂層/抗發(fā)射層/濾光層 |
生物醫(yī)學(xué) |
聚對二甲苯/生物膜層/硝化纖維 |
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盒厚/聚酰亞胺/ITO |
半導(dǎo)體制造 |
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