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專門為ZS-HLDS2VT開發(fā)的非球面透鏡，采用的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)較適用于正反射工件。顯著擴(kuò)大了允許傾斜的角度，并提高了測量透明工件和正反射工件的穩(wěn)定性。
產(chǎn)品分類品牌分類
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Fluke安裝測試儀 Fluke熱像儀 Fluke校準(zhǔn)儀 Fluke測試儀 Fluke功率計(jì) Fluke功率分析儀 Fluke記錄儀 Fluke監(jiān)測器 Fluke電氣綜合測試儀 Fluke電能質(zhì)量分析儀 Fluke紅外熱像儀 Fluke紅外窗口 Fluke電測窗 Fluke激光儀 Fluke鉗形表 Fluke點(diǎn)檢儀 Fluke頻閃儀 Fluke測振儀 Fluke模塊 Fluke溫度表 Fluke測溫儀 Fluke電流表 Fluke萬用表 Fluke套件 Fluke電阻測試儀 Fluke示波表 Fluke工業(yè)診斷內(nèi)窺鏡 Fluke成像儀
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
歐姆龍OMRON激光型位移傳感器
超高性能傳感器支持大范圍超精確測量的核心質(zhì)量
測量中心距離為20 ～ 1,500 mm的各種型號(hào)。
大分辨率達(dá)0.25 μm。
大響應(yīng)速度達(dá)110 μs。
支持并行輸出。
超穩(wěn)定性
*尺寸/穩(wěn)定性
傳感器尺寸
重視性能的*傳感器頭尺寸和3點(diǎn)式固定構(gòu)造確保出眾的傳感穩(wěn)定性。（參見注釋）
注：ZS-HLDS2T 不可用。
的移動(dòng)分辨率
透視分辨率提升
通過提高受光透鏡的靈敏度和分辨率，使光學(xué)系統(tǒng)*化，從而大幅度降低移動(dòng)分辨率誤差（因工件表面位置引起的誤差）。
材質(zhì)間誤差降低
2維CMOS
CCD在受光量過多時(shí)電荷會(huì)溢出至相鄰的像素。CMOS避免了這種現(xiàn)象，不會(huì)受不同材質(zhì)或受光過多導(dǎo)致的光量變動(dòng)影響。
降低決定測量精度的不同物體之間的差異。
因此，可以更方便地應(yīng)用于檢測對(duì)象物。
行業(yè)shou創(chuàng)的1,500mm長距離檢測，可以測量以往無法測量的點(diǎn)。
注：此功能可能在明亮環(huán)境中無效。
可穩(wěn)定測量傾斜工件和移動(dòng)工件。
專門為ZS-HLDS2VT開發(fā)的非球面透鏡，采用的光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)適用于正反射工件。顯著擴(kuò)大了允許傾斜的角度，并提高了測量透明工件和正反射工件的穩(wěn)定性。
在半導(dǎo)體晶圓片、玻璃等要求精度高的測量上具有壓倒性的優(yōu)勢。
令人難以置信的測量精度0.25μm，同級(jí)產(chǎn)品的zui高水平。
密封調(diào)和器的高度控制
HDD用電機(jī)旋轉(zhuǎn)座的光盤播放檢查
詳情：歐姆龍OMRON激光型位移傳感器