產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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工頻耐壓試驗(yàn)裝置 串聯(lián)諧振 串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置 串聯(lián)諧振耐壓測(cè)試儀 串聯(lián)變頻諧振試驗(yàn)裝置 變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置 變頻串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置 熔噴布直流靜電發(fā)生器 熔噴布靜電發(fā)生器 波形電力沖擊發(fā)生器 數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀 0.1HZ超低頻高壓發(fā)生器 水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)直流高壓試驗(yàn) 交直流數(shù)字分壓器 充SF6氣式高壓試驗(yàn)變壓器 干式高壓試驗(yàn)變壓器 工頻交直流串激試驗(yàn)變壓器 串并聯(lián)調(diào)頻諧振試驗(yàn)裝置 無(wú)局部放電工頻試驗(yàn)變壓器 微機(jī)型直流高壓發(fā)生器 直流高壓發(fā)生器
高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀常見(jiàn)故障處理方法
高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用變頻抗干擾和傅里葉變換數(shù)字濾波技術(shù),自動(dòng)化、智能化,在強(qiáng)干擾條件下測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定,但試驗(yàn)數(shù)據(jù)在使用中明顯不合理是不可避免的。一旦出現(xiàn)這種積極的問(wèn)題,可以從以下幾個(gè)方面找到原因:
1、搭鉤接觸不良
在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量中使用鉤子連接測(cè)試產(chǎn)品時(shí),掛鉤必須與測(cè)試產(chǎn)品保持良好的接觸,否則接觸點(diǎn)的放電會(huì)引起數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動(dòng)!尤其是排水管道的氧化層太厚或風(fēng)吹管道擺動(dòng)時(shí),容易造成接觸不良。
2、 接地接觸不良
接地不良會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)的嚴(yán)重波動(dòng),接地點(diǎn)的油漆、鐵銹應(yīng)刮除,并保證零電阻接地!
3、 末端屏蔽法測(cè)量電磁式 PT或直接測(cè)量 CVT
用端面屏蔽法測(cè)量電磁PT時(shí),由于水分引起的T形網(wǎng)絡(luò)干擾的負(fù)介電損耗,可使以下三條裙的瓷套和終板干燥。它也可以通過(guò)常規(guī)方法或端壓力法測(cè)量。
直接測(cè)量cvt較低的耦合電容會(huì)產(chǎn)生負(fù)的介電損耗,應(yīng)采用自激法。
4、 空氣濕度過(guò)大
空氣濕度大使的介電損耗測(cè)量值異常增大(或降低,甚至為負(fù)),且不穩(wěn)定,因此,必要時(shí)可以添加屏蔽環(huán),由于人工屏蔽環(huán)改變了試樣的電場(chǎng)分布,該方法存在爭(zhēng)議??梢詤⒖枷嚓P(guān)規(guī)定。
5、發(fā)電機(jī)供電
電源供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定。采用固定頻率的50 Hz模式工作。
6、 測(cè)試線
由于長(zhǎng)期使用,容易造成測(cè)試線的隱性斷路。芯線與屏蔽層短路或插頭接觸不良,用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線。測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容測(cè)試產(chǎn)品時(shí),應(yīng)采用全屏蔽插頭連接,以消除影響附加雜散電容,否則不能反映儀器的精度,自激法測(cè)量VT中的C、非高壓線路應(yīng)暫停,否則附加的雜散電容和介質(zhì)損耗將對(duì)地面造成測(cè)量誤差。
7、 工作模式選擇
接線后,請(qǐng)選擇正確的測(cè)量方式(正、負(fù)、CVT),無(wú)誤,特別是在干擾環(huán)境下,應(yīng)選擇變頻抗干擾方式。
8、 試驗(yàn)方法影響
由于介質(zhì)損耗的測(cè)量受測(cè)試方法的影響很大,應(yīng)區(qū)分測(cè)試方法誤差和儀器誤差,如有問(wèn)題,先檢查接線,再檢查是否為高壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀故障。
9、 儀器故障
使用萬(wàn)用表測(cè)量測(cè)試線路是否開(kāi)啟,或鐵芯線和屏蔽是否短路,輸入電源過(guò)高或過(guò)低,接地良好。用正負(fù)接線測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知電容和介質(zhì)損耗的電容樣品。如果結(jié)果正確,則可以判斷儀器。