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[供應(yīng)]LS-TH-100S-光纖光電小型恒溫恒濕試驗箱
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  • LS-TH-100S-光纖光電小型恒溫恒濕試驗箱
貨物所在地:
廣東東莞市
產(chǎn)地:
廣東省東莞市常平鎮(zhèn)港建路43號
更新時間:
2022-04-26 14:36:56
有效期:
2022年4月26日 -- 2023年4月26日
已獲點擊:
62
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產(chǎn)品簡介

光纖光電小型恒溫恒濕試驗箱又名高低溫濕熱試驗箱,用于試驗各種產(chǎn)品及材料,耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子電工、家用電器、半導(dǎo)體照明、光電光纖、化工涂料、塑膠制品、汽車車輛、建材、金屬、醫(yī)療、家具、玩具、航空等材料制品研發(fā)及檢測品質(zhì)之用。

詳細介紹


光纖光電小型恒溫恒濕試驗箱優(yōu)惠報價選東莞萊思,同樣的價格,買更*,更穩(wěn)定的性能保障,高低溫循環(huán)試驗箱,多年行業(yè)研發(fā)經(jīng)驗,環(huán)保,智能,節(jié)能,免費上門保養(yǎng)產(chǎn)品,歡迎來電廠家咨詢!



型號及技術(shù)參數(shù):

   

LS-TH-80

LS-TH-150

LS-TH-225

LS-TH-408

LS-TH-800

LS-TH-1000

內(nèi)箱尺寸

cm)

40*50*40

50*60*50

50*75*60

60*85*80

100*100*80

100*100*100

外箱尺寸

cm)

97*136*97

107*146*107

107*161*117

117*171*127

155*185*130

155*185*1477

內(nèi)容積

L)

80

150

225

408

800

1000

溫度范圍

   0150    -20150    -40150    -70150

濕度范圍

      標準型:20%98%PH      低濕型:10%98%RH或5%98%RH

精度控制

                    ±0.2;±2.5%RH

均勻度

                    ±2.0±3.0%RH

升溫速度

                      3.03.5/分鐘

降溫速度

                      1.01.3/分鐘

內(nèi)箱材質(zhì)

                  SUS304不銹鋼鏡面板

外箱材質(zhì)

                  SUS304拉絲紋不銹鋼或冷軋鋼板烤漆

保溫材質(zhì)

超細玻璃棉或聚氨酯發(fā)泡

制冷方式

            機械式單級制冷方式/機械式雙級制冷方式

制冷機組

     法國泰康

制冷劑

                         R404A/R23

冷凝方式

風(fēng)冷/水冷

進風(fēng)系統(tǒng)

離心風(fēng)機

控制系統(tǒng)

韓國三元TEMI880/TEMI300

編程容量

120組每組可設(shè)10=1200

供水方式

                        循環(huán)供水

   

    1ф3W  AC220V±10%50/60HZ    3ф5W  AC3800V±10%50/60HZ

標準配置

觀察窗1個、測試孔1個、樣品架2層、箱內(nèi)照明燈1個、濕球氣象帶5片、腳輪4個、電源線一條

安全裝置

超溫保護、干燒保護、缺水保護、漏電保護、風(fēng)機過載保護、壓縮機超壓,過載過流保護、相序保護、熔斷器。


光纖光電小型恒溫恒濕試驗箱執(zhí)行與滿足標準:

GJB150.3-2009高溫試驗

GJB150.4-2009低溫試驗

GB/T 10586-2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;

GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT);

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:低溫(IEC 60068-2-1:2007,IDT);

GB/T 2423.3-2016 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab 恒定濕熱試驗(IEC 60068-2-78:2012,IDT);

GB/T 2423.4-2008 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab 交變濕熱(12h+12h循環(huán)(IEC 60068-2-30:2005,IDT);

GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗N:溫度變化(IEC 60068-2-14:2009,IDT);

GJB/T 150.9-86 設(shè)備環(huán)境曬云方法 第8部分 濕熱試驗。



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