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HLDZ-ⅢD回路電阻測(cè)試儀
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  • HLDZ-ⅢD回路電阻測(cè)試儀

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貨物所在地: 上海上海市
更新時(shí)間: 2024-08-02 21:00:07
期: 2024年8月2日--2025年2月2日
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產(chǎn)品簡介

HLDZ-ⅢD回路電阻測(cè)試儀根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 - 1996 》的要求,各種開關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大,在大電流流過時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)?;蚨ㄆ趯?duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

詳細(xì)介紹

 

HLDZ-ⅢD回路電阻測(cè)試儀根據(jù)電力設(shè)備預(yù)防性試驗(yàn)規(guī)程《 DL/T 596 - 1996 》的要求,各種開關(guān)設(shè)備的導(dǎo)電回路電阻測(cè)試,其測(cè)試電流不得小于100A。由于接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е?/span>接觸電阻增大,在大電流流過時(shí),接觸點(diǎn)溫度升高,這更加速接觸面氧化,使接觸電阻進(jìn)一步增大,持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故,因此有必要經(jīng)?;蚨ㄆ趯?duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。

 

主要技術(shù)指標(biāo)

1、輸出電流:     100A、或200A    

2、分辨率: 0.1微歐

3、測(cè)試范圍: 0  ~  4000微歐

4、測(cè)試精度: 0.5級(jí)

5測(cè)量設(shè)備: 各類電力開關(guān)

6、環(huán)境溫度: 0℃ ~ 40

7、相對(duì)濕度:≤85%

8、顯示方式: 中英文顯示

性能

1、不需調(diào)節(jié)輸出電流,直接顯示測(cè)量電阻值。

2、具有開路保護(hù)。

3、具有自放電功能。

4、超量程顯示。

5、顯示即時(shí)時(shí)間。

6、可調(diào)整當(dāng)前時(shí)間。

7、打印當(dāng)前測(cè)量結(jié)果。

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