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[供應(yīng)]單路/多路-實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀
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  • 單路/多路-實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀
貨物所在地:
廣東深圳市
更新時(shí)間:
2023-10-13 21:00:26
有效期:
2023年10月13日 -- 2024年4月13日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

ORTEC實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀采用超低本底和PIPS工藝(表面鈍化、離子注入、可擦洗)硅探測(cè)器,同時(shí)真空艙室也為超低本底材料。探測(cè)器面積上提供300、450、490、600、900和1200平方毫米的選擇(Alpha Mega面積可至3000mm2),有效耗盡層厚度100μm。
關(guān)于Ultra-AS探測(cè)器的詳細(xì)信息,請(qǐng)見(jiàn)帶電粒子探測(cè)器。

詳細(xì)介紹

Aria/MEGA/DUO/Ensemble

  • Alpha-Mega是一個(gè)完整的單路實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀,形狀大小等同于Alpha-Duo,其大面積測(cè)量艙室,可采用面積3000mm2探測(cè)器,可直接測(cè)量106mm直徑的濾紙濾膜樣品

  • Alpha-DUO 是一個(gè)完整的雙路 alpha 譜儀,用于傳統(tǒng)制樣方法下Alpha樣品分析;

  • Ensemble 是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的機(jī)箱、可最多容納4個(gè)Alpha-DUO、4個(gè)Alpha-Mega、或其組合體;

  • Alpha-DUO 和Alpha-Mgega 既可以獨(dú)立工作,也可以嵌入到Ensemble機(jī)箱中構(gòu)成多路Alpha譜儀

結(jié)構(gòu)特性與性能指標(biāo)

  • 探測(cè)器面積可選300/450/490/600/900/1200 mm2;

  • 樣品直徑13mm至51mm;

  • 探測(cè)器與被測(cè)樣品之間有10檔距離可選,相鄰兩檔之間的距離差為4mm, 距離可達(dá)44mm。

  • *數(shù)字化且每路*獨(dú)立的MCA,一切參數(shù)由計(jì)算機(jī)控制(Alpha Aria由外面板控制真空)。

  • 真空計(jì):范圍10mTorr到20Torr。

  • 探測(cè)器偏壓:范圍0±100V, 大小和正負(fù)極性可調(diào)。

  • 漏電流檢測(cè)器:范圍0到10,000nA,顯示分辨率3nA。

  • 脈沖發(fā)生器:范圍0到10Mev,穩(wěn)定性<50ppm/oC,脈沖幅度可調(diào)。

  • 數(shù)字化MCA:通過(guò)軟件可設(shè)置系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益(道數(shù))為256、512、1024、 2048或者4096道,細(xì)調(diào)增益為0.25到1;增益穩(wěn)定性: ≤150ppm/oC;每個(gè)事件的轉(zhuǎn)換時(shí)間(死時(shí)間):<2 µs。

  • 數(shù)字化穩(wěn)譜、ADC的零點(diǎn)(ZERO)和下閾(LLD)均由計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)設(shè)置。

  • 譜儀的探測(cè)器偏壓、漏電流均可在軟件相關(guān)界面上以數(shù)字和圖形顯示出來(lái)

  • 分辨率和本底:基于使用450mm2ULTRA-AS探測(cè)器和高質(zhì)量Am241點(diǎn)源,能量分辨率(FWHM):≤20KeV(探測(cè)器到源的距離等于探測(cè)器的直徑;探測(cè)器效率: ≥25% (探測(cè)器到源的距離小于10mm);本底:在3MeV以上每小時(shí)計(jì)數(shù)≤1。

  • 輸入電源:120/240 V ac, 50/60 Hz,輸入功率50W

  • USB2.0接口

  • 應(yīng)用軟件:MAESTRO-32 AlphaVision

  • Ensemble-8尺寸:48.5cm W×49.2cm D ×27.2cm H;凈重:26.6 kg

  • 工作條件: 溫度0oC50oC, 相對(duì)濕度 ≤ 95%

另幾款實(shí)驗(yàn)室Alpha譜儀的分辨率(@5.486MeV):

ENUS-490FWHM): 22KeV; ENUS-600FWHM): 24KeV;

ENUS-900,FWHM): 29KeV; ENUS-1200FWHM): 37KeV

Ensemble/DUO/MEGA都已植入反沖抑制功能,只需配置反沖抑制樣品盤RCAP-ST即可實(shí)現(xiàn)該功能,從而盡可能避免探測(cè)器與艙室被alpha粒子沾污。



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